ソフトウェア製造テストファンクションテスト JFT-JTAG
アンドールシステムサポート株式会社

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この製品について

JTAG ファンクションテストシステム (JFT) は、バウンダリスキャンテスト (シングルピンネットのテスト) と、Python、National Instruments社 LabVIEW、およびMicrosoft社でのプログラミングアクティビティをサポートする一連のソフトウェアモジュールを備えた、使いやすいDLLアプリケーションプログラムインターフェイス (API) です。

JFTを使用すると、ユーザーはJTAGテスト/バウンダリスキャンテストアプリケーションをWindowsの標準開発環境の.Net、またはPythonスクリプト言語、LabVIEW (バウンダリスキャンVI) で作成できます。JFTでは、周辺回路のテストをドライバー/センサー ピンの設定を、変数またはレジスタ ビットとして宣言されたピンのグループを制御してプログラムすることができます。

これらのアプリケーションは通常、ロジックデバイスまたはミックスドシグナルクラスターのテストに使用され、再利用可能なテスト「モジュール」に変換することもできます。JFT を JTAG CoreCommander (コアコマンダー) エミュレーションテストモジュールと組み合わせると、組み込みデバイス周辺機器 (ADC、メモリ コントローラーなど) を介してテストを実行するための効果的で低コストのシステムが得られます。

■特徴・ロジックデバイスとメモリのテストを作成する
・取得した変数に対して限界テストを実行する
・オプションのCoreCommanderを使用してデバイス内部にアクセスする
・I2C、SPI通信およびサンプル用のライブラリが含まれています

■利点・多彩なテスト開発環境
・一般的なテスト開発APIによってサポートされています
・充実したバウンダリスキャン制御機能を搭載
・マイクロプロセッサコアエミュレーションテストのオプション

■アプリケーション・完全なテストプログラム自動生成 (ATPG) を使用せずに、バウンダリスキャン機能を必要とする低コストのテスト開発。
・JTAGインターフェイスを高レベルで使用するための基本要件を持つテスト システム開発者およびインテグレータ向け。