粒子物性測定機器レーザー回折・散乱法粒度分布測定装置乾式システム LS13320-乾式システム LS13320

粒子物性測定機器レーザー回折・散乱法粒度分布測定装置乾式システム LS13320
日科機バイオス株式会社

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この製品について

サンプルを吸引しながら全量測定するため、測定環境を汚染しません。独自のトルネード方式により凝集サンプルの分散も可能です。

■特長・0.4～2,000μmまでを一度に測定
・126個のディテクターの搭載による高分解能
・サンプルをセットするだけの全自動測定
・100mg~の微量測定が可能
・約10秒程度の高速測定
・リキッドモジュールも装着可能 (測定範囲0.4～2,000μm) 