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XRDWIN2.0 LAUEは当社の単結晶方位測定装置の操作およびラウエパターンのデータ解析用に設計されています。標準機能には、パターンの分析、インデックスの作成、およびクリスタルの向き変更のための包括的なツールセットが含まれています。高速モードは、タービンブレードなどの単結晶部品をより高効率化することで時短に貢献します。

■標準機能

・空間群および結晶データからラウエ・スポットのシミュレーション ・パターンの自動化インデクシング ・オリエンテーションマトリクスの表示 ・ラウエパターンをリアルタイムで評価するためのイメージモード ・編集可能なイメージフレーム ・ラウエイメージの保存

■設定

・ラウエパターンの手動整合用の001、011、111オーバーレイ ・編集可能なカスタムhklオーバーレイ ・オーバーレイ回転用の間隔マウス制御 ・USA角：γ (ガンマ) 、δ (デルタ) 、α (アルファ) 、β (ベータ) 、R値 ・US規約1および2 ・UK角：γ (ガンマ) 、δ (デルタ) 、θ (シータ) 、α (アルファ) 、R値、κ (カッパ) 、ρ (ロー) 、ω (オメガ) ・R値計算は下記を使用して入手可能。 RELcos (R-2cos) 、RELrms (R-2RMS) 、DIFFcos (R-3cos) 、DIFFrms (R-3RMS) 、単一角cos (R-1cos) ・最短001基準オプションおよび局所基準オプション付きのオフオリエンテーションモード ・様々なラウエパターンにマッチングさせる自動インデクシング機能 ・お客様の要求に基づく情報処理スクリーンカスタム化 (オプション) ・測定結果をデータベースにインターフェースする機能 (オプション)

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    XRDWIN 2.0 LAUE

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会社概要

X線回折装置（XRD）を主体にした製品開発、販売、メンテナンスを生業にする企業です。
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