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この製品について

XRDWIN2.0PDは当社の粉末解析の操作および粉末パターンのデータ解析用に設計されています。基本的な定性的および定量的解析にはXRDWIN PDをお選びください。

■XRDWin2.0 PD機能

・測定器のウォームアップと制御、データ収集 ・K-α1とK-α2の分離 ・データのスムージング化 ・積分強度 ・バックグランドフィッティング ・ピークの検索とフィッティング ・定量分析のための強度比法 ・定量分析 ・微結晶サイズ ・ICDDデータベース検索マッチ (別途：データーベース) ・MDIジェイド·インターフェース (別途：ジェイド) MDI Jade2010 回折パターンの高度な解析にはMDIのJade2010ソフトウェアをお勧めします。このプログラムはXRDWIN PDと統合してRietveld詳細化のような高度な解析ツールにアクセスできるようにします。

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    XRDWin 2.0 PD

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X線回折装置（XRD）を主体にした製品開発、販売、メンテナンスを生業にする企業です。
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