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振動等に強い設計 LDタイプ位相差測定装置 PDMS-102-PDMS-102
振動等に強い設計 LDタイプ位相差測定装置 PDMS-102-ファイブラボ株式会社

振動等に強い設計 LDタイプ位相差測定装置 PDMS-102
ファイブラボ株式会社



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この製品について

■タイプ

半導体レーザー・自動切換え・多波長搭載

■特徴

・当社・全ての光学系が石定盤に構築されているため振動等に強い設計になっています。 ・ポラライザ・アナライザには消光の良いグラントムソンプリズムを採用し、位相板は広帯域のものを使用しています。 ・測定方式に回転位相子法を採用しているため従来のRA法では測定しにくいΔの領域も位相板の出し入れなしで高速・高精度に測定できます。 ・Max4種の半導体レーザを搭載可能で、各波長切換えを自動で行なわれるためスピーディかつ高度な測定が可能です。 ・回転素子 (λ/4板) の機構に弊社独自のホールモータ+オプティカルエンコーダの組み合わせにより極めて高い再現性を実現しています。 ・弊社エリプソメータの技術を基に開発された位相差測定装置です。 ・サンプルを透過・反射する際に生じる位相差 (S波・P波のズレ) を測定します。

  • シリーズ

    振動等に強い設計 LDタイプ位相差測定装置 PDMS-102

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振動等に強い設計 LDタイプ位相差測定装置 PDMS-102 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定方式 光源 ビーム径 ディテクタ 入射角 移動量 測定精度 測定時間 サンプルステージ 寸法 重量
振動等に強い設計 LDタイプ位相差測定装置 PDMS-102-品番-PDMS-102

PDMS-102

要見積もり

回転位相子法 (RQ法)

半導体レーザ (650,690,780,830等最大4波長)

約Φ2~2.5mm

Siダイオード

ー45 (+α) 度~+45 (+α) 度

サンプル中心軸180+α度

Δ±0.05度 (但し、直線状態にて)

Min0.05秒 (通常約2秒) 積算回数により測定時間は異なります。

Φ98mmの高さ調整機構付きθステージ (Z軸ストローク65MM)

測定機本体400×760×330、制御ユニット400×430×165
PC (ミニタワー型) 455×205×430CRT15inch※奥行き×幅×高さ (mm)

測定機本体約110kgシステム総重量約180kg

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

ファイブラボ株式会社は1988年に設立した、光学機器及び装置の専門メーカーです。 光学機器や装置の開発・製造・販売をメインの事業として展開しており、光で膜の厚みなどを測定する装置であるエリプソンメーター、非接触で角度を...

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  • 本社所在地: 神奈川県
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