産業用製品メーカー比較 | Metoree
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BLS-I/BCT-400 Superior Bulk Silicon Characterization
ミワオプト株式会社
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膜厚計 光干渉タイプ EL2
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会社概要
ミワオプト株式会社は1993年の設立であり、光学測定機器の開発および輸入販売を行うメーカーです。 主に膜厚計やウエハの各種測定装置などの光学測定機器を取り扱い、偏光解析によるものや、干渉を利用したものなどバリエーション...
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