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小型ユニバーサル材料試験システム μTS-μTS-100N
小型ユニバーサル材料試験システム μTS-株式会社レーザー計測

小型ユニバーサル材料試験システム μTS
株式会社レーザー計測



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この製品について

■概要

μTSは、ナノインデンターとマクロユニバーサルロードフレーム間の長さスケールで独自に機能する、小型のユニバーサル材料試験システムです。デジタル画像相関 (DIC) および光学顕微鏡の組み合わせにより、ナノ長スケールの研究を実施できます。

■技術

μTSは、長さ、速度、力の複数のスケールに独自に対応します。 ・長さ 面外の動きを制約するμTSは、光学顕微鏡の被写界深度の制限にかかわらず、効果的に高倍率のデジタル画像相関を可能にします。 ・速度 直接駆動のボールねじアクチュエーターは、9桁の速度をカバーします。これにより、効果的な負荷制御、レート依存研究、クリープまたは応力緩和試験を可能にします。 ・力 独自の超高解像度センサー技術は、従来のひずみゲージと比較して100倍高い性能を提供します。

■特長

光学顕微鏡下での材料試験における主な課題は、面外の試料のたわみです。25nmの変位フィールド分解能を得るためには、小さな被写界深度を要します。数ミクロンの面外運動により、画像の焦点がずれます。μTSは、テスト中にサンプルを平面に保つように設計されており、その結果、以下に適した洗練された機器ができました。 ・マルチスケールテストによる有限要素解析の連続体モデルの検証 ・数量に限りがある材料開発を促進するミニチュアサンプルテスト ・新しい実験技術の実装を可能にする前例のない汎用性

■連続体モデルの検証

μTSは、6つの長さスケールにわたる連続体モデルを検証するツールです。画像相関法と最適化された光学顕微鏡により、機械的テスト中に最大変位フィールドを0.1ピクセルの解像度まで観測できます。これは、カメラの解像度に応じて、変位フィールドで最大25nmの解像度、ひずみフィールドで0.01%の解像度を解析できることを意味します。

■ミニチュアサンプルテスト

新規材料の研究開発では、サンプルの収量が少なすぎてフルスケールのASTM (American Society for Testing and Materials) サンプルを生成できない場合があります。μTSは画像相関法の局所ひずみ測定により、非常に小さいサンプルでも正確なテストを実行できるため、使用できる材料に限りがある場合でも良質なデータを提供します。

  • シリーズ

    小型ユニバーサル材料試験システム μTS

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小型ユニバーサル材料試験システム μTS 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 荷重容量 分解能 ストローク (mm) 位置決め制御 (nm) 最小レート (nm/s) 最大レート (mm/s) 最大加速度 (m/s2) サイズ LxWxH (mm) 質量 (kg) 制御ループ (Hz) 所要電力
小型ユニバーサル材料試験システム μTS-品番-μTS-100N

μTS-100N

要見積もり

100N

50μN

27

<5

12

160

10

220x100x54

1.3-2.2

1.6MHz (電流) 、16KHz (速度) 、8KHz (位置) 、500Hz (外側)

120/240V@50/60Hz

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