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JIB-PS500i FIB-SEMシステム 試料ステージ-JIB-PS500i 試料ステージ
JIB-PS500i FIB-SEMシステム 試料ステージ-日本電子株式会社

JIB-PS500i FIB-SEMシステム 試料ステージ
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この製品について

◾️ 新しい試料作製ソリューション JIB-PS500iは、TEM試料作製をアシストする3つのソリューションを提供します。試料作製からTEM観察まで、確実かつ高スループットなワークフローで作業することができます。 ◾️特長 ・TEM-LINKAGE 二軸傾斜カートリッジとTEM ホルダーによりTEM ⇔ FIBのリンクを容易にします。カートリッジは専用のTEM 試料ホルダーにワンタッチで装着できます。 ・CHECK-AND-GO TEM 試料を確実に作製するためには、作製した試料をその場でチェックできることが重要です。JIB-PS500i では、TEM 試料作製からシームレスにSTEM観察に移行できます。薄片加工⇔STEM観察の繰り返しにより、納得のいく試料作製が行えます。 ・AUTOMATIC PREPARATION 自動TEM試料作製システムSTEMPLING2により、TEM試料作製を自動化します。自動で試料作製を行うので、オペレータースキルによる品質のばらつきがありません。 ◾️ New Chamber & Stage Designあらゆる要求に応える 自由度の高い 高傾斜 & 大型ステージ ・Loading a large specimen 大型試料室および新開発の5軸フルユーセントリック大型モーターステージを採用し、可動範囲を増やし大きな試料にも対応しました。130 mm φの試料の全面で加工・観察が可能です。また、最大で 高さ80 mmの試料まで搬入できます。 ・AVERT Engine to determine movement limit using 3D models 試料ホルダー、ステージやチャンバー内構造物の3Dモデルを使用し移動制限を判断します。いかなる状況に於いても試料は検出器や対物レンズに干渉することなく使用できます。試料室カメラを見ながらの操作から解放されます。TEM 試料を確実に作製するためには、作製した試料をその場でチェックできることが重要です。JIB-PS500i では、TEM 試料作製からシームレスにSTEM観察に移行できます。薄片加工⇔STEM観察の繰り返しにより、納得のいく試料作製が行えます。

  • シリーズ

    JIB-PS500i FIB-SEMシステム 試料ステージ

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JIB-PS500i FIB-SEMシステム 試料ステージ 品番1件

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この商品の取り扱い会社情報

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会社概要

日本電子株式会社は、1949年5月に電子顕微鏡を製造する会社として創業以来、電子顕微鏡などのナノテク分野で世界トップレベルの計測機器を開発しています。 本社は東京都昭島市にあり、企業の研究部門から産業機器分野まで、多く...

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  • 本社所在地: 東京都
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