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シリーズ
世界最先端のマルチ検出器GPC/SECシステム OMNISECアクセサリ GPCおよびSEC用標準試料| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | ポリスチレン (PS) 標準物質 | ポリスチレン (PS) アプリケーション | ポリスチレン (PS) 校正手法 | ポリスチレン (PS) 梱包状態 | ポリスチレン (PS) 分子量範囲 | ポリメチルメタクリレート (PMMA) 標準物質 | ポリメチルメタクリレート (PMMA) アプリケーション | ポリメチルメタクリレート (PMMA) 校正手法 | ポリメチルメタクリレート (PMMA) 梱包状態 | ポリメチルメタクリレート (PMMA) 分子量範囲 | ポリエチレンオキシド (PEO) 標準物質 | ポリエチレンオキシド (PEO) アプリケーション | ポリエチレンオキシド (PEO) 校正手法 | ポリエチレンオキシド (PEO) 梱包状態 | ポリエチレンオキシド (PEO) 分子量範囲 | プルラン 標準物質 | プルラン アプリケーション | プルラン 校正手法 | プルラン 梱包状態 | プルラン 分子量範囲 | デキストラン 標準物質 | デキストラン アプリケーション | デキストラン 校正手法 | デキストラン 梱包状態 | デキストラン 分子量範囲 |
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GPCおよびSEC用標準試料 |
要見積もり |
ポリスチレン (PS) |
人工ポリマー |
カラム校正用、光散乱校正用 (ナロー) およびチェック用 (ブロード)... |
バルク粉末、計量済みで複数サンプルの混合 (HT-GPC用) |
1,000 Da – 4.5 MDa |
ポリメチルメタクリレート (PMMA) |
人工ポリマー |
カラム校正用、光散乱校正用 (ナロー) およびチェック用 (ブロード)... |
バルク粉末または計量済み |
3 kDa – 1 MDa |
ポリエチレンオキシド (PEO) |
水溶性ポリマー |
カラム校正および光散乱校正用 (ナロー) |
計量済み |
50 kDa to 250 kDa |
プルラン |
水溶性ポリマー |
光散乱校正用 (ナロー) |
バルク粉末または計量済み |
5 kDa to 700 kDa |
デキストラン |
水溶性ポリマー |
光散乱校正のチェック用 (ブロード) |
計量済み |
50 kDa – 100 kDa |
