全てのカテゴリ

閲覧履歴

LAUE測定装置-LAUE測定装置
LAUE測定装置-株式会社ルシール


無料
見積もり費用は無料です、お気軽にご利用ください

電話番号不要
不必要に電話がかかってくる心配はありません

この製品について

■特徴

・垂直、水平、粒度マップ構成で利用可能 ・プラグアンドプレイのコンパクトなキャビネット システム-カスタマイズされたベンチや追加サービスは必要ありません ・完全に自動化された電動のXYZステージとゴニオメーター、手動オプションも利用可能 ・CCD背面反射型、高分解能、高感度X線検出器 ・独自の集光光学系により小さなコリメートビームサイズを実現 ・オンボードの高解像度観察カメラによる小型結晶の迅速かつ正確な位置合わせ ・正確かつ再現性のあるサンプルの位置決めのための距離測定ツール ・完全な制御、データ収集、処理、分析のための専用Laueソフトウェア ・ハイスループットのサンプルスクリーニングオプション

■垂直構成

最も柔軟な構成である垂直LAUEシステムは、垂直ビーム パスを使用して、孤立した複数の結晶または複数の対象領域を高スループットでスキャンします。重力を利用すると、サンプルをプラットフォームに貼り付ける必要がなくなり、結晶の取り付けと方向付けが容易になります。 <200µm のビーム サイズにより、サブミリメートル範囲のサンプルとタービン合金などの大型コンポーネントの両方に対応します。

■水平構成

従来の水平ジオメトリでも使用できます。水平LAUEシステムは、結晶を切断する方向に向けたり、結晶を素早くスキャンして反射を特定したりするのに適しています。

■グレインマップ構成

特別なカメラ、レンズ、照明、および各結晶粒の方位を測定するマッピング ソフトウェアを備えた垂直システム。グレイン マップには、完全に電動化された XYZ ステージとゴニオメーターが標準で含まれており、シリコン ウェーハのグレイン マッピングに最適です。

  • シリーズ

    LAUE測定装置

この製品を共有する



無料
見積もり費用は無料のため、お気軽にご利用ください

電話番号不要
不必要に電話がかかってくる心配はありません

LAUE測定装置 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜)
LAUE測定装置-品番-LAUE測定装置

LAUE測定装置

要見積もり

ルシールの取り扱い製品

ルシールの製品をもっと見る

この商品の取り扱い会社情報

会社概要

株式会社ルシールは、物質材料の分析・測定にあたりデータを得るための光分析システム・産業用評価装置等を手掛ける専門メーカーです。 1994年に理科学機器メーカーとして設立し、極微弱光の分光・画像測定によりCCDの性能を評...

もっと見る

  • 本社所在地: 茨城県
Copyright © 2024 Metoree