LAUE測定装置
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この製品について

■特徴・垂直、水平、粒度マップ構成で利用可能
・プラグアンドプレイのコンパクトなキャビネット システム-カスタマイズされたベンチや追加サービスは必要ありません
・完全に自動化された電動のXYZステージとゴニオメーター、手動オプションも利用可能
・CCD背面反射型、高分解能、高感度X線検出器
・独自の集光光学系により小さなコリメートビームサイズを実現
・オンボードの高解像度観察カメラによる小型結晶の迅速かつ正確な位置合わせ
・正確かつ再現性のあるサンプルの位置決めのための距離測定ツール
・完全な制御、データ収集、処理、分析のための専用Laueソフトウェア
・ハイスループットのサンプルスクリーニングオプション

■垂直構成最も柔軟な構成である垂直LAUEシステムは、垂直ビーム パスを使用して、孤立した複数の結晶または複数の対象領域を高スループットでスキャンします。重力を利用すると、サンプルをプラットフォームに貼り付ける必要がなくなり、結晶の取り付けと方向付けが容易になります。 <200µm のビーム サイズにより、サブミリメートル範囲のサンプルとタービン合金などの大型コンポーネントの両方に対応します。

■水平構成従来の水平ジオメトリでも使用できます。水平LAUEシステムは、結晶を切断する方向に向けたり、結晶を素早くスキャンして反射を特定したりするのに適しています。

■グレインマップ構成特別なカメラ、レンズ、照明、および各結晶粒の方位を測定するマッピング ソフトウェアを備えた垂直システム。グレイン マップには、完全に電動化された XYZ ステージとゴニオメーターが標準で含まれており、シリコン ウェーハのグレイン マッピングに最適です。