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ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000ZS-ELSZ-2000ZS
ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000ZS-大木理工機材株式会社

ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000ZS
大木理工機材株式会社

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この製品について

■概要

従来からの希薄溶液~濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定に加え、分子量測定も可能な装置です。粒子径測定範囲 (0.6nm~10μm) 、濃度範囲 (0.00001%~40%) に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした最小容量130μL~のディスポーザブルセルで測定が可能です。また新たに0~90℃の幅広い温度範囲で、自動温度グラジエント測定をおこない変性・相転移温度解析が可能です。

■特長

・最新型高感度APDにより感度アップと測定時間短縮を実現 ・自動温度グラジエント測定により変性・相転移温度解析が可能 ・0~90℃の広い温度範囲で測定が可能 ・広範囲な分子量測定および解析機能を追加 ・懸濁した高濃度サンプルの粒子径・ゼータ電位測定に対応 ・セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供 ・高塩濃度溶液のゼータ電位測定に対応 ・小面積サンプルの平板ゼータ電位測定に対応 用途

■新規機能性材料分野

・燃料電池関連 (カーボンナノチューブ、フラーレン、機能性膜、触媒、ナノ金属) ・バイオナノ関連 (ナノカプセル、デンドリマー、DDS、バイオナノ粒子) 、ナノバブルなど

■セラミックス・色材工業分野

・セラミックス (シリカ・アルミナ・酸化チタンなど) ・無機ゾルの表面改質・分散・凝集制御 ・顔料 (カーボンブラック・有機顔料) の分散・凝集制御 ・スラリー状サンプル ・カラーフィルター ・浮遊選鉱物の捕集材吸着の研究

■半導体分野

・シリコンウェハー表面への異物付着のメカニズム解明 ・研磨剤や添加剤とウェハー表面との相互作用の研究 ・CMPスラリー

■高分子・化学工業分野

・エマルション (塗料・接着剤) の分散・凝集制御、ラテックスの表面改質 (医薬用・工業用) ・高分子電解質 (ポリスチレンスルフォネート・ポリカルボン酸など) の機能性の研究、機能性ナノ粒子 ・紙・パルプの製紙工程制御およびパルプ添加材の研究

■医薬品・食品工業分野  

・エマルション (食品・香料・医療・化粧品) の分散・凝集制御、タンパク質の機能性 ・リポソーム・ベシクルの分散・凝集制御、界面活性剤 (ミセル) の機能性

  • シリーズ

    ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000ZS

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ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000ZS 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) メーカー 測定原理 粒子径 測定原理 ゼータ電位 測定原理 分子量 光学系 粒子径 光学系 ゼータ電位 光学系 分子量 光源 検出器 セル 温度 電源 寸法 (WDH) 重量 ゼータ電位 電気移動度 粒子径 分子量 測定温度範囲 測定濃度範囲
ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000ZS-品番-ELSZ-2000ZS

ELSZ-2000ZS

要見積もり

大塚電子

動的光散乱法 (光子相関法)

電気泳動光散乱法 (レーザードップラー法)

静的光散乱法

ホモダイン光学系

ヘテロダイン光学系

ホモダイン光学系

高出力半導体レーザー

高感度APD

ゼータ電位用:標準セル、微量ディスポセルもしくは濃厚系セル
粒子径/分子量用:角セル

0 ~ 90℃ ( グラジエント機能あり)

100V ± 10% 250VA

380 (W) ×600 (D) ×210 (H)

22 kg

-200 ~ +200 mV

-2×10^-5 ~ 2×10^-5 cm2/V・s

0.6 nm ~ 10μm

60 ~ 2×10^7

0 ~ 90℃

粒子径:0.00001 % ( 0.1ppm) ~ 40 % (Latex112nm: 0.00001 ~ 10%、タウロコール酸: ~ 40%)
ゼータ電位:0.001%~40%

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この商品の取り扱い会社情報

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会社概要

大木理工機材株式会社は、理化学機器の製造販売、分析機器の製造販売、前処理機器の製造販売、計測機器の製造販売、プロセス・現場用計測機器の製造販売などを主な事業内容とする企業です。 1950年に理化学機器の販売を目的として...

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  • 本社所在地: 群馬県
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