X線透過式沈降法粒度分布測定装置 SediGraph III 5125-SediGraph III 5125

X線透過式沈降法粒度分布測定装置 SediGraph III 5125
大木理工機材株式会社

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この製品について

■概要新しいX線透過式沈降法粒度分布測定装置。セディメンテーション技術であらゆる大きさの粒子を、測定粒子形状にこだわらず、抜群の再現性、 高い正確性を実現します。

■実証済みの手法と高い信頼性を誇る、科学的法則に基づいた比類のない粒子径分析装置・50年以上にわたって、標準的な沈降法粒子径分析装置として世界各地で活用
・Stokes (ストークス) の法則を用いた粒子径測定
・粒子の沈降をリアルタイムで監視し、分析中に粒子径の測定結果のレポートを作成可能
・最先端のソフトウェアインターフェイスによる全自動制御
・オプションのMasterTechオートサンプラーにより、ハイスループットを実現
・鉱物や地質学、セラミックスなどの多様な主要業界で標準装置として普及
・ASTM B761-06およびアドバンストセラミックスの参照委員会C28の要件に対応

特長と利点
■インテリジェントな設計機能SediGraph III Plusは、再現性の高い測定を容易に実行できるよう、高度な計装機能を提供します。 新機能が追加されたことで、装置の運用とメンテナンスがさらに容易になり、測定結果を様々な場所で確実に再現できるようになりました。

■設計の改善項目は次のとおりです。・全粒子径範囲を測定：0.1 µm未満の小さい粒子を含め、投入されたサンプルの粒子をすべて確実に測定
・データの結合：他の粒子径測定手法によるデータを結合して、レポートの対象範囲データを125,000 µm (125mm) まで拡張することができ、地質学の分野に最適
・沈降セルのスキャン：包括的なスキャンによって沈降の速い粒子を正確に捕捉しながら、微粒子の分離に必要な時間を短縮
・全自動による運用：サンプルのスループットを高め、オペレーターの介入を削減して人為的ミスのリスクを低減
・測定時の温度制御：測定中に液体の特性が一定に保たれるため、再現性の高い正確な測定結果を保証
・複数の測定速度に対応：ニーズに応じて最適な速度と分解能の組み合わせを選択可能
・リアルタイム表示：進行中の測定を累積質量プロットとして監視できるので、必要に応じて直ちに手順を変更可能
・統計的プロセス管理 (SPC) レポート：プロセスの成果を追跡し、変動が生じた場合に直ちに対応可能

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
X線透過式沈降法粒度分布測定装置 SediGraph III 5125

取扱企業
大木理工機材株式会社

カテゴリ

測定機器

粒子径分布測定装置

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X線透過式沈降法粒度分布測定装置 SediGraph III 5125 品番1件

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測定範囲µm: 100 - 1000

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商品画像	品番	価格 (税抜)	メーカー	粒子径の範囲	サンプルサイズ	懸濁液	電源要件	温度	湿度	物理仕様	その他
	SediGraph III 5125	要見積もり	マイクロメリティックスジャパン合同会社	300~0.1 μm (等価球直径)	50 mLの分散サンプル (正確な濃度は不要)	サンプルセル材料に適合し、X線吸収率が低い液体 (一般的に使用される液体は水、グリコール、鉱油、SediSperse®およびアルコール)	85~264 VAC、47/63 Hz、450 VA	動作温度：周囲温度+10~40 ℃、保管または配送温度：-10~55℃	20~80% (結露なきこと)	高さ： 52 cm 幅： 50.5 cm 奥行： 58 cm 重量： 43 kg	ISO 9001 (製造) およびCE認証取得済み