X線透過式沈降法粒度分布測定装置 SediGraph III 5125
大木理工機材株式会社
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この製品について
■概要
新しいX線透過式沈降法粒度分布測定装置。セディメンテーション技術であらゆる大きさの粒子を、測定粒子形状にこだわらず、抜群の再現性、 高い正確性を実現します。■実証済みの手法と高い信頼性を誇る、科学的法則に基づいた比類のない粒子径分析装置
・50年以上にわたって、標準的な沈降法粒子径分析装置として世界各地で活用 ・Stokes (ストークス) の法則を用いた粒子径測定 ・粒子の沈降をリアルタイムで監視し、分析中に粒子径の測定結果のレポートを作成可能 ・最先端のソフトウェアインターフェイスによる全自動制御 ・オプションのMasterTechオートサンプラーにより、ハイスループットを実現 ・鉱物や地質学、セラミックスなどの多様な主要業界で標準装置として普及 ・ASTM B761-06およびアドバンストセラミックスの参照委員会C28の要件に対応 特長と利点■インテリジェントな設計機能
SediGraph III Plusは、再現性の高い測定を容易に実行できるよう、高度な計装機能を提供します。 新機能が追加されたことで、装置の運用とメンテナンスがさらに容易になり、測定結果を様々な場所で確実に再現できるようになりました。■設計の改善項目は次のとおりです。
・全粒子径範囲を測定：0.1 µm未満の小さい粒子を含め、投入されたサンプルの粒子をすべて確実に測定 ・データの結合：他の粒子径測定手法によるデータを結合して、レポートの対象範囲データを125,000 µm (125mm) まで拡張することができ、地質学の分野に最適 ・沈降セルのスキャン：包括的なスキャンによって沈降の速い粒子を正確に捕捉しながら、微粒子の分離に必要な時間を短縮 ・全自動による運用：サンプルのスループットを高め、オペレーターの介入を削減して人為的ミスのリスクを低減 ・測定時の温度制御：測定中に液体の特性が一定に保たれるため、再現性の高い正確な測定結果を保証 ・複数の測定速度に対応：ニーズに応じて最適な速度と分解能の組み合わせを選択可能 ・リアルタイム表示：進行中の測定を累積質量プロットとして監視できるので、必要に応じて直ちに手順を変更可能 ・統計的プロセス管理 (SPC) レポート：プロセスの成果を追跡し、変動が生じた場合に直ちに対応可能-
シリーズ
X線透過式沈降法粒度分布測定装置 SediGraph III 5125
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取扱企業
大木理工機材株式会社
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カテゴリ
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X線透過式沈降法粒度分布測定装置 SediGraph III 5125 品番1件
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | メーカー | 粒子径の範囲 | サンプルサイズ | 懸濁液 | 電源要件 | 温度 | 湿度 | 物理仕様 | その他 |
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SediGraph III 5125 |
要見積もり | マイクロメリティックスジャパン合同会社 | 300~0.1 μm (等価球直径) | 50 mLの分散サンプル (正確な濃度は不要) | サンプルセル材料に適合し、X線吸収率が低い液体 (一般的に使用される液体は水、グリコール、鉱油、SediSperse®およびアルコール) | 85~264 VAC、47/63 Hz、450 VA | 動作温度：周囲温度+10~40 ℃、保管または配送温度：-10~55℃ | 20~80% (結露なきこと) |
高さ： 52 cm 幅： 50.5 cm 奥行： 58 cm 重量： 43 kg |
ISO 9001 (製造) およびCE認証取得済み |
