DIP検査用温度試験装置 PTT-300
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この製品について

■概要SMD型水晶発振器の温度特性を検査する装置です。-30℃から+85℃までの範囲を連続的に温度を変化させることにより、温度特性のDIP (ディップ) 検査することが可能です。

■特長・本装置は温度制御にペルチェ素子を採用し、ペルチェ素子で温調されたプレート上にSMD型水晶発振器を置くことにより、高精度な温度特性試験が可能です。また、-30～+85℃の範囲を0.5℃の温度ステップで温度制御することで、正確な温度特性のDIP検査が可能です。
・多数個同時測定により、高スループットを実現しています。
・ローダ、アンローダにて、供給から分類、収納まで全自動で行います。
・開発、品質保証、試作や小ロット生産に最適な温度検査装置です。

■使用例・SMD型水晶発振器の温度特性を検査する装置です。
・-30℃から+85℃までの範囲を連続的に温度を変化させることにより、温度特性のDIP (ディップ) 検査することが可能です。

■オプション対応・SMD型水晶振動子の温度特性検査
・専用治具交換より複数品種対応

■温度時間 (概略) ・+25℃⇒-30℃:約5分
・-30℃⇒+85℃:約10分
・+85℃⇒+25℃:約5分

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
DIP検査用温度試験装置 PTT-300

取扱企業
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DIP検査用温度試験装置 PTT-300 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	対象ワーク	対象ワークサイズ	温度範囲	触針ブロック	測定器	温調方式	温調プレート	ワーク供給	外形寸法	オプション
	PTT-300	要見積もり	・SMD型水晶発振器・オプションでSMD型水晶振動子対応も可能	5.0×3.2~1.6×1.2 (mm) ワークサイズは応相談	-30℃~+85℃※温度範囲は応相談	プローブ式:2式 (温調プレート1、温調プレート2 各1式)	周波数カウンター＋電源	ペルチェ素子＋チラーユニット	約80個配列の専用トレー	段積みトレーより供給して、温調プレート (専用トレー) に移載	・本体 W1,200×D800×H1,500mm (計測器、パトライトなどの突起物除く) ・チラー W340×D384×H851mm×4式 (温調プレート用)	・SMD型水晶振動子に対応可能・切替部品で複数サイズの品種に対応可能