輝度ムラ・ダークスポットなど長期間での経時変化を自動測定有機EL寿命測定システム-有機EL寿命測定システム

輝度ムラ・ダークスポットなど長期間での経時変化を自動測定有機EL寿命測定システム
株式会社東京インスツルメンツ

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この製品について

■輝度ムラ・ダークスポットなど、長期間での経時変化を自動測定有機EL寿命測定システムELLT1001は、長期間 (数日～数週間) での有機EL素子経時変化 (寿命) を全自動測定するシステムです。素子の駆動条件、温度条件を個別に設定して、相対輝度・電流・電圧などの発光特性の経時変化を測定できる他、輝度ムラ・ダークスポット成長などの空間的イメージの経時変化も測定することができます。更に分光器オプション追加により、スペクトル変化の測定にも対応可能です。この1台で、素子寿命評価の効率が大幅に上がります。

有機EL素子のI-V-L特性、外部量子効率 (ランバシアン効果) 、発光効率、エネルギー変換効率、発光スペクトル、各種色度値 (XY座標、CRI、色温度、RGB値) など、1台で多種多様な測定に対応可能な有機EL発光効率測定装置EL1003も別途販売しております。

■最大32素子を同時検査 (最大測定点60,000点以上) 設置素子数1個のシングルチャンネル機から、最大32素子を設置できるマルチチャンネル機まで対応可能です。マルチチャンネル測定の場合には、有機EL素子を設置する暗箱も個別に分かれており、電流/電圧も32チャンネルで個別設定することができます。ダークスポットを空間イメージ測定するための光学系＋カメラは、電動XYステージで移動させて使用します。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
輝度ムラ・ダークスポットなど長期間での経時変化を自動測定有機EL寿命測定システム

取扱企業
株式会社東京インスツルメンツ

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輝度ムラ・ダークスポットなど長期間での経時変化を自動測定有機EL寿命測定システム品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	搭載可能基板サイズ (mm)	温度設定範囲 (℃)	データ取得時間/計測時間	駆動初期条件	計測終了条件	印加電圧設定範囲	注入電流設定範囲	電圧/電流チャンネル	検出器	計測視野 (mm)	測定輝度範囲 (cd/m2)	試験時間	システム制御	データ保存
	有機EL寿命測定システム	要見積もり	最大100×100	20~90 (温度制御素子ステージ使用時)	1素子あたり10秒以内素子ごとに独立して、10秒以上の任意時間間隔 (時間間隔4段階以上で任意設定)	素子ごとに独立して、電圧、電流相対輝度設定	素子ごとに独立して、相対輝度、測定電圧、電流設定により自動終了	0~38V (分解能10mV)	0~200mA (分解能1μA~100μA)	最大32チャンネル	1/2インチアナログ白黒CCカメラピクセル数768×494、ピクセルサイズ8.4×9.8μm	12.8または6.4 (テレセントリック光学系使用時) 8.5~50または1.4~8.4 (ズームレンズ光学系使用時)	1~10,000以上 (分解能1)	最大測定点数内20,000時間以上、最大測定点60,000点以上	パラメーター設定画像取得 XYステージ制御データ解析	画像データ解析数値データ