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すべての偏光特性分布を高感度検出 ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT-Exicor XT
すべての偏光特性分布を高感度検出 ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT-株式会社東京インスツルメンツ

すべての偏光特性分布を高感度検出 ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT
株式会社東京インスツルメンツ

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この製品について

■概要

HINDS社のミュラー行列ポラリメーター Exicor® XTシリーズは、材料が持つあらゆる偏光特性 (直線複屈折、円複屈折、線2色性、円2色性、偏光解消) を高感度かつ短時間にマッピング測定する最新の偏光測定装置です。 本装置は超低レベル複屈折位相差測定装置 Exicor ATシリーズで定評のある位相変調法を発展させた装置であり、合計4台のPEMによってミュラー行列の16要素全てを測定します。例えば、位相差フィルムに含まれるわずかな円複屈折 (旋光性) や偏光解消成分を測定することができます。モデル150XTは、光源にHeNeレーザー (633 nm) と150 mmのXYステージを搭載し、簡単な操作でミュラー行列のマッピングをおこないます。 ソフトウェアは測定したミュラー行列から各偏光特性を解析、表示するので、ミュラー行列に詳しくない方でも使用でき、複屈折以外も測定できる汎用性の高い測定機として使用できます。

■特長

・ミュラー行列の16要素全てを測定 ・圧倒的な高感度、高精度測定 ・あらゆる偏光特性を同時かつ高速測定 ・Four PEMテクノロジーによる回転動作等のない安定した測定 ・ユーザーフレンドリーで簡単に使えるソフトウェア ・測定波長 (UV〜IR) 、サンプルステージなどカスタマイズ可能

  • シリーズ

    すべての偏光特性分布を高感度検出 ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT

企業レビュー

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2025年7月9日にレビュー

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見積もりの使い方

すべての偏光特性分布を高感度検出 ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定波長 スポット径 測定原理 偏光変調 測定原理 信号解析 ステージサイズ 複屈折位相差 測定範囲 複屈折位相差 繰返し精度 複屈折進相軸 測定範囲 複屈折進相軸 繰返し精度 旋光性 測定範囲 旋光性 繰返し精度 線二色性 測定範囲 線二色性 繰返し精度 線二色性透過軸 測定範囲 線二色性透過軸 繰返し精度 円二色性 測定範囲 円二色性 繰返し精度
すべての偏光特性分布を高感度検出 ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT-品番-Exicor XT

Exicor XT

要見積もり

632.8nm
180~2,500nm範囲まで対応可能

~1mm

Four PEM 位相変調法

フーリエ変換法

150mm×150mm
500mm×500mm など

0 - λ/2

0.03nm または 1%

±90度

0.05度 @>5nm

±90度

0.05度

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0.001 または 1%

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0.1度

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  • 本社所在地: 東京都
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