複屈折分散、最大10万nmの高次複屈折測定。Rthの測定可能。分光複屈折測定装置 (Poxi-spectra追加オプション) -分光複屈折測定装置

複屈折分散、最大10万nmの高次複屈折測定。Rthの測定可能。分光複屈折測定装置 (Poxi-spectra追加オプション)
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この製品について

■複屈折の波長依存性測定分光ポラリメーターPoxi-spectra™に光学ヘッドや光源、専用ソフトウェアを追加することで、複屈折の波長依存性を測定できるようになるオプションです。標準で波長400～800nm (拡張900nm) における各波長のリタデーションと主軸方位を高精度に測定します。1nm程度の低リタデーション試料から、最大10万nmの非常に大きなリタデーションの測定を本装置1台で測定できます。

また、本装置はストークスポラリメーターがベースになっており、試料透過光や反射光などの偏光測定 (ストークスベクトル測定) もできます。さらに、旋光性や2色性、偏光解消などの複屈折以外の偏光特性を測定するミュラー行列測定オプションも追加できます。

■主な用途・液晶ディスプレイ用位相差フィルムの評価
・波長板の検査

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
複屈折分散、最大10万nmの高次複屈折測定。Rthの測定可能。分光複屈折測定装置 (Poxi-spectra追加オプション)

取扱企業
株式会社東京インスツルメンツ

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複屈折分散、最大10万nmの高次複屈折測定。Rthの測定可能。分光複屈折測定装置 (Poxi-spectra追加オプション) 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	測定項目	最短測定時間	位相差繰り返し精度	主軸方位繰り返し精度	高次複屈折解析	装置構成
	分光複屈折測定装置	要見積もり	位相差主軸方位 (進相軸または遅相軸表示)	20秒 (露光時間・アベレージ回数に依存)	1度以下	1度以下	フィッティングによる解析。予想最大位相差 100,000nm 主軸方位の再計算機能	ハロゲンランプ光源入射側光学ヘッド複屈折測定・計算ソフトウェア

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■複屈折の波長依存性測定

■主な用途

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