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分光器・分光計 ハイパースペクトルイメージングシステム V-EOS, S-EOS-V-EOS
分光器・分光計 ハイパースペクトルイメージングシステム V-EOS, S-EOS-株式会社東京インスツルメンツ

分光器・分光計 ハイパースペクトルイメージングシステム V-EOS, S-EOS
株式会社東京インスツルメンツ

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■ハイパースペクトルイメージングシステム V-EOS, S-EOS

広視野の範囲 (可視・近赤外) で高分解能の分光イメージデータを取得、静止物の高精度検査用

■製品概要

Photon etc社のハイパースペクトルイメージングシステムは、特定波長のみ方向を変えることができる独自開発技術「Volume Bragg Grating (VBG) 」をもとにした体積型透過グレーティングを搭載し、チューナブルフィルタによって分光されたイメージングを取得するシステムです。 このPhoton etc社 独自開発技術の「体積型透過グレーティング」を搭載したハイパースペクトルイメージングシステムは、ラインスキャンタイプとは異なり、波長ごとの分光イメージデータを取得できるため、広視野で高分解能の分光イメージデータを取得することが可能となります。 また、測定エリア、測定波長範囲、波長ステップ幅を狭くすることにより、分光イメージデータをハイスピードで取得できます。

■特長

・チューナブルフィルタで波長別画像取得 ・測定波長 0.4~1.0μm、0.9~1.7μm、1.0~2.5μmの3タイプ

■用途

・薬品 ・食品 ・半導体 ・塗装等検査

  • シリーズ

    分光器・分光計 ハイパースペクトルイメージングシステム V-EOS, S-EOS

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分光器・分光計 ハイパースペクトルイメージングシステム V-EOS, S-EOS 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 分光方式 分光チャンネル 搭載センサー (選択可) 測定波長 波長分解能 サンプリング分光幅 標準FOV (カスタマイズ可) 空間分解能 入射スリット ダイナミックレンジ
分光器・分光計 ハイパースペクトルイメージングシステム V-EOS, S-EOS-品番-V-EOS

V-EOS

要見積もり

体積型透過グレーティング (Volume Bragg Grating)

連続可変

CCD、sCMOS、EMCCD

400~1,000 nm

2 nm

0.1 nm以上 (programable)

72° (水平)
50° (垂直)

2mm @1.2m with FOV of 1.85m×1.35m

無し (FOV内イメージ同時測定)

14 bit

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  • 本社所在地: 東京都
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