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光検出器・光電子分光用アナライザ 組立てMCP (Advanced Performance Detector)
株式会社東京インスツルメンツ

💻 電子・電気機器業界用

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この製品について

■組立てMCP (Advanced Performance Detector)

マウント付MCPにより装置への組込が容易。TOF用APDもセレクション多数。

■製品概要

PHOTONIS社の組立てMCP (Advanced Performance Detector:APD) は、同社製MCPをフランジやケースに組込んだ、電子・イオン・高エネルギーフォトン用検出器です。予めマウントされているので、装置への取付けが容易に行えます。 用途によりフォスファースクリーン、メタルアノード、レジスティブアノード等、出力タイプも各種取り揃えています。TOF用やドーナツ状に穴の開いたタイプ等、各種用途向けの製品 ラインアップも豊富です。

■特長

・電子、イオン、高エネルギーフォトンの検出 ・長寿命 (通常のMCPの5倍) ・高ダイナミックレンジ (Extended Dynamic Range™) ・高空間分解能 (最小2μmポア径) ・高時間分解能 ・3種類のMCPグレード (Detection、Image、Premium) ・付外しが用意な組立てMCP ・パルスカウンティングモード、アナログモード ・湿度に強いMountingPad™オプションあり

■組立MCPのセレクション

1. MCP段数 2. 検出タイプ 用途に合わせて検出タイプを選択できます。フォスファーの種類から選択します。 3. 検出面サイズ 有効検出面のサイズです。 4. チャンネルピッチ/ポア径 最小2μmの分解能です。3/2、6/5、10/8、12/10、32/25から選択します。 5. バイアス角 入射面に対するチャンネルの角度です。0°は主にコリメーション用です。 ※他にもセレクションがございます。

  • シリーズ

    光検出器・光電子分光用アナライザ 組立てMCP (Advanced Performance Detector)
  • 利用シーン

    電子・電気機器業界用

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光検出器・光電子分光用アナライザ 組立てMCP (Advanced Performance Detector) 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 1. MCP段数 2. 検出タイプ-1 2. 検出タイプ-2 2. 検出タイプ-3 2. 検出タイプ-4 2. 検出タイプ-5 2. 検出タイプ-6 3. 検出面サイズ (mm) 4. チャンネルピッチ/ポア径 (μm) 5. バイアス角 (°) 6. MCPクオリティー-1 6. MCPクオリティー-2 6. MCPクオリティー-3 7. アスペクト比 (L/D) 8. 形状-1 8. 形状-2 9. Extended Dynamic Range 10. コーティング-1 10. コーティング-2 10. コーティング-3 11. オプション-1 11. オプション-2 11. オプション-3 11. オプション-4 11. オプション-5 11. オプション-6 11. オプション-7 11. オプション-8

APD

要見積もり

1:1段MCP (CEMA)
2:2段MCP (Chevron™)
3:3段MCP (Z-stack)

指定無し:Metal assembly without anode
(2. 検出タイプ-1~6のうちいずれかを選択)

APTOF:Advanced Performance Time-Of-Flight detector
(2. 検出タイプ-1~6のうちいずれかを選択)

BPTOF:BiPolar Time-Of-Flight detector
CRT:Cartridge for another detector
(2. 検出タイプ-1~6のうちいずれかを選択)

LPD:Low Profile detector
MA:Metal Anode
(2. 検出タイプ-1~6のうちいずれかを選択)

MICROTRON:Miniature Time-Of-Flight detector
PS:Phosphor Screen
(2. 検出タイプ-1~6のうちいずれかを選択)

RAE:Resistive Anode Encorder
TOF:Time-Of-Flight detector
(2. 検出タイプ-1~6のうちいずれかを選択)

円形:18、25、40、75、120
長方形:8.16×6.64、50×8、80×15、95×42、97×79、100×15

3/2、6/5、10/8、12/10、32/25

0、5、8、12、19

D (Detection Quality)
TOF 質量分析、残留ガス分析、ノンイメージング検出など
(6. MCPクオリティ-1~3のうちいずれかを選択)

I (Imaging Quality)
イメージング検出、位置検出器、ESCA、2次イオン質量分析など
(6. MCPクオリティ-1~3のうちいずれかを選択)

P (Premium Quality)
精密な画像質を要求される超精密イメージング、電子画像用途など
(6. MCPクオリティ-1~3のうちいずれかを選択)

40:1、46:1、60:1

指定無し:Rimmed
CH:Center Hole (ドーナツ状)  
WS:Wedge Shaped (台形)
(8. 形状-1~2のうちいずれかを選択)

AS:Annular Sector (扇形)
PB:Partial Border
(8. 形状-1~2のうちいずれかを選択)

指定無し:標準仕様
EDR:ダイナミックレンジ50~100倍

指定無し: (Standard NiChrome)
AU:Gold
CSI:Cesium Iodide
(10. コーティング-1~3のうちいずれかを選択)

MgF2:Magnesium Fluoride
MGO:Magnesium Oxide
(10. コーティング-1~3のうちいずれかを選択)

KBR:Potassium Bromide
CUI:Copper Iodide
(10. コーティング-1~3のうちいずれかを選択)

指定無し:標準仕様
#ANODE:Multi metal anode
#FM:Conflat Flange mount size (inch)
(11. オプション-1~8のうちいずれかを選択)

FFM:Front Flange Mountable
RFM:Rear Flange Mountable
(11. オプション-1~8のうちいずれかを選択)

SFM:Side Flange Mountable
CRT:Cartridge
CT:CenterTabs
(11. オプション-1~8のうちいずれかを選択)

FEESDTHRUS:Additional Feed Throughs
HT:High Temperature
(11. オプション-1~8のうちいずれかを選択)

IPB:InterPlate Bias
(11. オプション-1~8のうちいずれかを選択)

KEYED:The hardware is keyed to eliminate one rotational degree of freedom
(11. オプション-1~8のうちいずれかを選択)

P##:Type of Phosphor screen
GRID:Grid
NOGRID:No Grid
(11. オプション-1~8のうちいずれかを選択)

NW100FM:Metric NW100 flange
SMA:SubMinitature version A Connectors
(11. オプション-1~8のうちいずれかを選択)

この商品の取り扱い会社情報

  • 本社所在地: 東京都
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