光計測機器波面収差測定器 OMI シングルパスシャックハルトマンセンサー-OMI UV-VIS-NIR

光計測機器波面収差測定器 OMI シングルパスシャックハルトマンセンサー
旭光通商株式会社

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この製品について

■概要Spot Optics社の最先端テクノロジーが詰まったシングルパスシャックハルトマンセンサーOMIシリーズです。UV域からMWIR域の対応した全部で8個のモデルが用意されています。ユーザーは自分で簡単にキャリブレーションを成し遂げることができ、シングルパスによる透過、反射波面の高精度測定を提供致します。

■特長・幅広い波長域に対応のラインナップ (UV,VIS,SWIR,MWIR,LWIR) 
・高精度 (λ/60) 及び高繰り返し測定精度 (λ/1,000) 
・コンパクトで軽量な筐体
・イメージ取得と解析のための専用ソフトウェア Sensoft
・Zernike解析 (焦点距離、コマ、球面収差、非点収差・・・・50次以上) 、PSF、MTF
・様々なビーム径を提供のための豊富なレンズアクセサリ
・ユーザーサイトでの校正による高精度測定

■アクセサリー・波面センサーには測定に有効なアクセサリーが付属されています
・外部校正ユニットCal25
・外部電動校正ユニットECM25
・外部校正ピンホール光源PH50
・ビームエキスパンダー/ビームコンプレッサーBE25、BE60およびBE120
・マウンティング付きの標準光源
・マウンティング付きのフラットミラー
・対物レンズ
・光学素子取付マウント
・電動ステージ

■アプリケーション・レンズ性能評価 (MTF,EFL,BFL,ザイデル収差,面形状等) 
・HUD、VR、AR
・光学部品の波面収差測定 (面精度等) 
・光学システムや光学モジュールのアライメント調整
・天体望遠鏡用反射ミラーの応力測定
・レーザーの透過波面測定
・コンタクトレンズ

■多用途シャックハルトマンセンサー・シングルパスでの正確な計測
・光学素子、レーザー、レーザーダイオード
・任意の焦点距離と直径をテスト可能 (アクセサリ使用時) 
・広いダイナミックレンジ
・研究開発および生産用
・UV>NIR (300～1,100nm) 波長範囲に最適化
・ハイサンプリング

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
光計測機器波面収差測定器 OMI シングルパスシャックハルトマンセンサー

取扱企業
旭光通商株式会社

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光計測機器波面収差測定器 OMI シングルパスシャックハルトマンセンサー品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	測定対象	測定可能なレーザーダイオードのパワー	スポットの数	標準レンズレットアレイの直径と焦点距離	ソフトウェア (制御及び解析)	ゼルニケ係数のRMS繰り返し再現性	モーダル波面測定のRMS再現性	精度及びダイナミックレンジ	ディテクター、波長範囲、冷却	カメラ1：解像度、ピクセルサイズ、チップサイズ	カメラ2：解像度、ピクセルサイズ、チップサイズ	接続、A/Dコンバータビット	カメラ1：取得スピード	カメラ2：取得スピード	トリガー	積分時間 (最大)
	OMI UV-VIS-NIR	要見積もり	光学素子、レーザーおよびレーザーダイオード	数mW。それ以上の出力には電力低減システムが必要 (利用可能)	スポットサイズ10mmの場合は50×50 (UV-VIS-NIR)	・φ=0.2mm、f=22mm 紫外~可視域 300~750nm用・φ=0.2mm、f=11mm 近赤外域 750~1,100nm用	Sensoft 64ビット Win7、Win8.1、Win10用	<2nm rms (λ/800 @1,050nm)	<λ/100	λ/20~λ/100 (校正に依存) 、±50λ	CMOS (UV-VIS-NIR) 、非冷却	1,024×1,024ピクセル、各10.6μm、10.9×10.9mm2	2,048×2,048ピクセル、各8μm、16×16mm2	ギガビットイーサネット、12ビット	75Hz	15Hz	有り	~800ミリ秒