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光MEMSデバイス環境試験システム-光MEMSデバイス環境試験システム
光MEMSデバイス環境試験システム-エーエルティー株式会社

光MEMSデバイス環境試験システム
エーエルティー株式会社

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この製品について

■特長

光MEMSデバイスの周囲温度変動による性能変化の計測、-40℃~150℃対応可能

  • シリーズ

    光MEMSデバイス環境試験システム

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最新の閲覧: 19時間前


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光MEMSデバイス環境試験システム 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 温度 結露防止 温調 バーイン 制御 圧力 構成
光MEMSデバイス環境試験システム-品番-光MEMSデバイス環境試験システム

光MEMSデバイス環境試験システム

要見積もり

-40℃~100℃

窒素ガス封入簡易チャンバー

カスケード接続ペルチェ素子、チーラー

室温~200°

ヒータPID制御

10~100Pa

小型チャンバー、真空ポンプ

フィルターから探す

環境試験機をフィルターから探すことができます

温度範囲 ℃

-80 - -60 -60 - -40 -40 - -20 -20 - 0 0 - 20 20 - 40 40 - 60 60 - 80 80 - 100 100 - 120 120 - 140 140 - 160 160 - 180 180 - 200

温度変化速度 ℃/分

0 - 1 1 - 2 2 - 3 3 - 10 10 - 20 20 - 30

温度極値到達時間 分

10 - 30 30 - 50 50 - 80 80 - 120

湿度範囲 %RH

10 - 30 30 - 70 70 - 90 90 - 100

試験室床面積 ㎡

0 - 5 5 - 10 10 - 20

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この商品の取り扱い会社情報

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会社概要

エーエルティー株式会社は1992年に設立された、レーザー光源やスキャナ計測システム等の電子計測機器、光学計測機器の開発・製造を行う企業です。 自社製品の販売だけでなく、設計やシステム開発から試作・製作まで行う受託開発や...

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  • 本社所在地: 東京都

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