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光MEMSデバイス環境試験システム-光MEMSデバイス環境試験システム
光MEMSデバイス環境試験システム-エーエルティー株式会社

光MEMSデバイス環境試験システム
エーエルティー株式会社

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この製品について

■特長

光MEMSデバイスの周囲温度変動による性能変化の計測、-40℃~150℃対応可能

  • シリーズ

    光MEMSデバイス環境試験システム

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最新の閲覧: 3時間前


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光MEMSデバイス環境試験システム 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 温度 結露防止 温調 バーイン 制御 圧力 構成
光MEMSデバイス環境試験システム-品番-光MEMSデバイス環境試験システム

光MEMSデバイス環境試験システム

要見積もり

-40℃~100℃

窒素ガス封入簡易チャンバー

カスケード接続ペルチェ素子、チーラー

室温~200°

ヒータPID制御

10~100Pa

小型チャンバー、真空ポンプ

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この商品の取り扱い会社情報

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会社概要

エーエルティー株式会社は1992年に設立された、レーザー光源やスキャナ計測システム等の電子計測機器、光学計測機器の開発・製造を行う企業です。 自社製品の販売だけでなく、設計やシステム開発から試作・製作まで行う受託開発や...

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  • 本社所在地: 東京都
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