光MEMSデバイス耐久試験システム
エーエルティー株式会社
この製品について
■特長
光MEMSデバイス長時間動作による性能変化の計測、1台から数十台の耐久試験対応可能。-
シリーズ
光MEMSデバイス耐久試験システム
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取扱企業
エーエルティー株式会社
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カテゴリ
光MEMSデバイス耐久試験システム 品番1件
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 対象MEMS | 振り角測定範囲 | 振り角分解能 | 駆動周波数分解能 | 駆動電圧分解能 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
光MEMSデバイス耐久試験システム |
要見積もり | 主軸共振40kHz、副軸非共振60Hz | ±6~±30° (光学角) 主軸、副軸 | 0.2度以下 | 0.1Hz | 0.1V |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
