光MEMSデバイス耐久試験システム
エーエルティー株式会社

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この製品について

■特長光MEMSデバイス長時間動作による性能変化の計測、1台から数十台の耐久試験対応可能。

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商品画像	品番	価格 (税抜)	対象MEMS	振り角測定範囲	振り角分解能	駆動周波数分解能	駆動電圧分解能
	光MEMSデバイス耐久試験システム	要見積もり	主軸共振40kHz、副軸非共振60Hz	±6~±30° (光学角) 主軸、副軸	0.2度以下	0.1Hz	0.1V

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会社概要

エーエルティー株式会社は1992年に設立された、レーザー光源やスキャナ計測システム等の電子計測機器、光学計測機器の開発・製造を行う企業です。自社製品の販売だけでなく、設計やシステム開発から試作・製作まで行う受託開発や...