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スクラッチ・ディグ自動検査装置 OptiLUX SD-OptiLUX SD
スクラッチ・ディグ自動検査装置 OptiLUX SD-株式会社アイ・アール・システム

スクラッチ・ディグ自動検査装置 OptiLUX SD
株式会社アイ・アール・システム

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この製品について

主観の入らない計測を行うので高再現性・高信頼性。製品歩留まりを飛躍的に向上させます。

■特徴

・均一照明下での高解像度の暗視野顕微観察で、主観の入らない信頼性の高い計測を行います ・XYステージ、Z軸高さ、カメラフォーカスの全てが自動調整、再現性の高い計測を行います ・最大300x300mmの範囲に収まれば、複数の光学系を一度に計測できます ・オートフォーカスなので素早く計測できます ・表面計測モードは手動、自動の両方が選択可能(必要な一部だけをすぐに確認することも) ・ユーザーの指定する範囲・形状に対して、任意に条件を設定可能 (複数の光学部品の一括測定が可能) (プログラムを組めば、業務時間外に自動計測を走らせることも可能、時間短縮に貢献します) ・その測定範囲設定条件の保存・呼び出しも可能 ・見やすい測定結果レポートを作成 (どこにどんなキズがあるかがすぐに分かるマッピング付き) (個別のキズに対する解析) (複雑な形状に対する解析) (指定するしきい値に対しての合否判別も簡単)

■用途

・平面原器、フィルター、プリズム、光学窓のような、高精度光学系の検査に ・高再現性・高信頼性を誇るので、従来必要としていた限度見本が不要に ・表面のキズ・ブツの規格を取り決めたい精密金属加工の分野に ・その他、表面の性状の検査、計測に

  • シリーズ

    スクラッチ・ディグ自動検査装置 OptiLUX SD

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スクラッチ・ディグ自動検査装置 OptiLUX SD 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 計測原理 準拠規格 計測キズ規格 最少計測サイズ スキャン速さ 最大測定範囲 許容最大傾斜 計測再現性 重量 (計測部のみ) サイズ (計測部のみ) カメラ 視野 (FOV) 画素分解能 Working Distance 計測用レンズ 照明 移動最大 駆動方式 位置決め 移動分解能 位置再現性 付属品
スクラッチ・ディグ自動検査装置 OptiLUX SD-品番-OptiLUX SD

OptiLUX SD

要見積もり

均一照明、全自動暗視野顕微測定器

MIL-PRF-13830B、ANSI/OEOSC OP 1.002:2009

スクラッチ (引っかき) :10-20-40-60-80、ディグ (ブツ、打痕) :5-10-20-40-50

8um

>25㎟/sec

300×300mm 但しこの範囲内で測定エリア/形状設定可

+/-2°

99.90%

55kg

680×680×612mm

モノクロ2,048×2,048画素、10-bit

5.63×5.63mm

2.75um

15mm (装置として)

ミツトヨ無限補正対物レンズ、x2 (固定) 、焦点深度184um、レンズ単体WD34mm

LEDアレー均一光源 (色温度5,500K)

XY 300mm、 Z 50mm (これ以外の仕様も応相談)

ボールねじ (手動) 、ブラシレスサーボモータ

ロータリーエンコーダ

XY 0.5um、Z 0.1um

XY ±1um、Z ±0.75um

専用Windows7 (64bit) PC、専用ソフトウェア、専用ステージおよびコントローラ

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この商品の取り扱い会社情報

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会社概要

株式会社アイ・アール・システムは、光学機器の輸入販売、光学機器を用いた測定サービスを展開する企業です。 光計測機器の輸入販売商社として創業し、現在では専門知識を持つ技術者を抱えることで修理、メンテナンスなどの保守サービ...

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  • 本社所在地: 東京都
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