プリント基板検査用治具高機能基板検査用治具 V-4000FB
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この製品について

■概要「高機能基板 (ビルドアップ基板、部品内蔵基板、モジュール基板) の低抵抗測定検査に最適です。

■特長・「自社オリジナル同軸型プローブピン (特許) 」「接触接点技術 (特許) 」「ハウジング構成」により、安定した低抵抗測定、優れたメンテナンス性、耐久性を実現しています。
・プローブ間ピッチ：最小0.4mmまで可能。
・従来のような極細プローブピン2本を交換する負担が無く、メンテナンスが容易です。
・先端部の振れを抑える構造で、コンタクト位置精度が極めて高精度です。
・プローブピン先端部はφ0.10と極細のため、小型のパッドでもレジスト干渉をせずにコンタクトできます。
・外部と内部の導体は独立して可動しますので、凹凸部分 (ビアの窪みなど) にも確実にコンタクトできます。また、両端可動により、基板へのダメージも抑えています。
・接触接点技術及び、5層ハウジング構成により、プローブピンの交換メンテナンスを容易にし、さらに製作時の短納期化も実現しました。