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光計測装置 光ヘテロダイン変位計-株式会社フォトンプローブ

全型番で同じ値の指標

測定モード

リアルモード (実時間計測) 、ストレージモード (サンプリング時間間隔でデータ記録)

測定量

相対的変位量 (1プローブ2出射、2プローブタイプの場合) 、絶対的変位量 (1プローブ1出射タイプの場合)

測定分解能

1nm

応答周波数

サンプリング時間で異なります。DC~1MHz

応答速度

サンプリング時間で異なります。0~310mm/s

サンプリング時間

1μs (ストレージモード) 50ms、100ms、200ms、500ms、1sより選択 (リアルモード)

サンプリング点数

ストレージモード;次の8種より選択 1000k点、750k点、500k点、200k点、100k点、50k点、30k点、20k点、10k点、5k点、リアルモード;任意点数

計測時間

平均化処理点数とサンプリング時間とサンプリング点数より決まる、計測時間=サンプリング時間×サンプリング点数×平均化処理点数

使用レーザ

周波数安定化HeNeレーザ (FS1M)

出射光量

100μW以上

出射ビーム数

1 (1出射タイプ) 2 (2出射タイプ)

出射ビーム径

出射口にて約0.5mm

出射ビーム拡がり

1.5mrad以下

光周波数制御

周波数シフター (FS1S)

測定対象物反射率

0.5%以上 (条件;プローブ被測定物間距離20cm、被測定物鏡面) 。集光系により、距離が短くなれば測定可能な反射率は下がります。

金属保護管

標準2m (~4m程度まで変更可)

外形

430mm (W) ×460mm (D) ×230mm (H) ;本体、重量15kg

ウオームアップ

45分

使用環境温度

20±5℃

消費電力

AC100V・50/60Hz, 400W (本体)

この製品について

特徴

■1nmの分解能

0.001ミクロンが縦分解能です。計測の基準は周波数安定化HeNeレーザの波長です。その波長は極めて安定化しています。

■最短1μsごとに過渡現象を記録

短時間に変動する事象を計測・記録・表示します。PCのLCD画面上で変動の様子が一目瞭然になります。

■最大100万点を記録、データ処理

記録時間を大幅に増加しました。膨大な記録点数は、すべてPCで処理し、フィルタ処理、エクセル変換等が行えます。

■相対計測でベース振動等に基づく誤差要因を排除

測定点を2か所として、その2地点での変位量の相対値を計測します。相対変動量のみを明確にし、ベース振動成分などの誤差要因を取り除けます。

■応用

・PZT、制動鋼板、トランス、磁性材料などの振動解析・応答特性評価-:m以下の応答・変動を計測 ・高分子材料、薄膜、半導体、セラミックスなどのヤング率測定-微小圧力・負荷に対する応答を計測 ・MD、FD、HD、光ディスク、ブランクスなどの回転動特性評価-うねりや歪みの回転速度依存性を評価 ・LN、合金、鋼材、有機材などでの表面波、超音波伝搬速度測定-異方性、内部欠陥検出評価用に ・レーザ露光での空間揺らぎや膜材の音波、超音波での振動成分解析-サブミクロン世界での変動要因解析 ・光ピックアップ、磁気ヘッド (スライダ) の立ち上がり動特性評価-ベースの取り方により種々の量を計測 ・金属、高分子、セラミックの動的熱応答特性 - パルス加熱に対する変動を記録・熱分析 ・その他の物理量;圧電係数、熱膨張係数、浸透圧、重力波、物性強度、硬度、衝撃波の過渡現象も計測の対象 ・表面粗さ、傷検出、蒸着膜厚、精密加工もリアルタイムで測定 ・レーザ測長としても被測定物までの距離が2m程度可 (但し分解能を保持するためには50cmまでにしてください)

  • 型番

    HV400

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光計測装置 光ヘテロダイン変位計 HV400の性能表

商品画像 価格 (税抜) 測定モード 測定量 測定分解能 応答周波数 応答速度 サンプリング時間 サンプリング点数 計測時間 使用レーザ 出射光量 出射ビーム数 出射ビーム径 出射ビーム拡がり 光周波数制御 測定対象物反射率 金属保護管 外形 ウオームアップ 使用環境温度 消費電力
光計測装置 光ヘテロダイン変位計-品番-HV400 要見積もり リアルモード (実時間計測) 、ストレージモード (サンプリング時間間隔でデータ記録) 相対的変位量 (1プローブ2出射、2プローブタイプの場合) 、絶対的変位量 (1プローブ1出射タイプの場合) 1nm サンプリング時間で異なります。DC~1MHz サンプリング時間で異なります。0~310mm/s 1μs (ストレージモード) 50ms、100ms、200ms、500ms、1sより選択 (リアルモード) ストレージモード;次の8種より選択 1000k点、750k点、500k点、200k点、100k点、50k点、30k点、20k点、10k点、5k点、リアルモード;任意点数 平均化処理点数とサンプリング時間とサンプリング点数より決まる、計測時間=サンプリング時間×サンプリング点数×平均化処理点数 周波数安定化HeNeレーザ (FS1M) 100μW以上 1 (1出射タイプ) 2 (2出射タイプ) 出射口にて約0.5mm 1.5mrad以下 周波数シフター (FS1S) 0.5%以上 (条件;プローブ被測定物間距離20cm、被測定物鏡面) 。集光系により、距離が短くなれば測定可能な反射率は下がります。 標準2m (~4m程度まで変更可) 430mm (W) ×460mm (D) ×230mm (H) ;本体、重量15kg 45分 20±5℃ AC100V・50/60Hz, 400W (本体)

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使用用途

#橋梁点検 #構造物変形測定 #精密機械調整 #製品品質管理 #自動車試験 #建築施工管理 #半導体製造装置 #土木工事管理 #電子部品評価

測定範囲 mm

0 - 5 5 - 10 10 - 30 30 - 100 100 - 200 200 - 500 500 - 1,000 1,000 - 5,000,000

応答周波数 Hz

0 - 10 10 - 100 100 - 1,000 1,000 - 1,000,000

使用温度範囲 ℃

-200 - -100 -100 - 50 50 - 100 100 - 150

定格出力 mV/V

1 - 2 2 - 3 3 - 4 4 - 6 6 - 7 7 - 8

非直線性 %RO

0 - 0.1 0.1 - 0.2 0.2 - 0.3 0.3 - 0.5 0.5 - 1.5

測定力 N

0 - 2 2 - 4 4 - 7 7 - 17 17 - 31 31 - 60

電源 V

10 - 90 90 - 100 100 - 400

方式

差動変圧器 ケガキ方式

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