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サンプル面内の微小エリアに特化、2μmの高空間分解能、RGB波長切換 顕微複屈折イメージングシステム Exicor MicroImager-株式会社東京インスツルメンツ

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顕微鏡

HINDS社開発の専用顕微鏡

測定中心波長 (4波長から複数選択)

B : 450nm G : 530nm A : 590nm R : 630nm

測定パラメーター

リタデーション、進相軸方位

リタデーション測定範囲

0.1nm~300nm以上 (測定波長の半波長以下) 複数波長測定による高次測定可能 (位相接続処理) -RGB : 2,400nm程度 -RAGB : 3,500nm以上

リタデーション分解能

0.01nm

リタデーション繰り返し精度 (3σ)

0.6nm以下

進相軸分解能

0.5度

測定時間

約7秒 (標準)

照明光学系

疑似ケーラー照明 疑似平行光照明

CCDカメラ

2,048 × 2,048ピクセル、12ビット

試料ステージ移動量

75 × 56 mm

本体サイズ

30.5 × 25.4 × 68.5 (H)

この製品について

■概要

HINDS社が開発したExicor MicroImagerは、高空間分解能かつ高精度に試料の複屈折に起因するリタデーションおよび進相軸を自動測定する最新の装置です。光弾性変調器 (PEM) を使った偏光測定法をベースにした、高画素CCDカメラによる画像測定を実現しています。5倍対物レンズ使用時の視野は2.2mm角で空間分解能は2µmです。従来の偏光顕微鏡では観察困難な微小な複屈折分布の定量評価を可能にします。また、複数波長で測定し、高次の位相差測定も可能です。

■高い測定性能

リタデーション分解能0.01nm、ノイズフロア0.2nmを実現し、低歪みの工業材料の測定が可能です。さらに4Mピクセルの高解像度CCDカメラ採用により、生体試料などの複雑な複屈折分布を明瞭に捉えることができます。 測定波長は450nm、530nm、590nm、630nmの4波長を切り換えが可能で、試料に適した波長で測定できるだけではなく、高次複屈折測定にも対応します。また、2つの照明系を切り換えることができます。生体試料のように空間分解能が求められる用途ではケーラー照明、定量化性能が求められる工業製品の場合は平行光照明が適しています。 測定は全てソフトウェアによる自動制御であり、簡単に扱えます。

■カスタマイズ可能

Exicor MicroImagerは、ハードウェア、ソフトウェアともにHINDS社が設計しています。特注ステージ、様々な偏光解析などのカスタマイズに対応します。

■測定例

工業材料の歪み分布や、生体試料の可視化などが可能です。

■主な用途

・各種生体試料の可視化 ・光学素子の評価 ・3原色カラーフィルターの複屈折分布 ・内部応力分布の可視化 ・射出成型品の樹脂流れ方向や応力の評価 ・結晶構造の可視化

■測定画像サイズ / 分解能

・5,600 × 5,600μm、分解能5μm (2倍対物レンズ) ・2,200 × 2,200μm、分解能2μm (5倍対物レンズ) ・1,000 × 1,000μm、分解能1μm (10倍対物レンズ) ・500 × 500μm、分解能0.5μm (20倍対物レンズ)

  • 型番

    Exicor MicroImager

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サンプル面内の微小エリアに特化、2μmの高空間分解能、RGB波長切換 顕微複屈折イメージングシステム Exicor MicroImager Exicor MicroImagerの性能表

商品画像 価格 (税抜) 顕微鏡 測定中心波長 (4波長から複数選択) 測定パラメーター リタデーション測定範囲 リタデーション分解能 リタデーション繰り返し精度 (3σ) 進相軸分解能 測定時間 照明光学系 CCDカメラ 試料ステージ移動量 本体サイズ
サンプル面内の微小エリアに特化、2μmの高空間分解能、RGB波長切換 顕微複屈折イメージングシステム Exicor MicroImager-品番-Exicor MicroImager 要見積もり HINDS社開発の専用顕微鏡 B : 450nm
G : 530nm
A : 590nm
R : 630nm
リタデーション、進相軸方位 0.1nm~300nm以上 (測定波長の半波長以下)
複数波長測定による高次測定可能 (位相接続処理)
-RGB : 2,400nm程度
-RAGB : 3,500nm以上
0.01nm 0.6nm以下 0.5度 約7秒 (標準) 疑似ケーラー照明
疑似平行光照明
2,048 × 2,048ピクセル、12ビット 75 × 56 mm 30.5 × 25.4 × 68.5 (H)

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使用用途

#鉱物観察 #結晶解析 #高分子評価 #繊維解析 #セラミックス評価 #教育実習 #材料研究 #応力評価 #金属組織解析

対物レンズ 倍

4 - 20 20 - 60 60 - 100

総合倍率 倍

20 - 150 150 - 450 450 - 1,100

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  • 本社所在地: 東京都

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