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異方性材料の評価に最適。必要な機能をすべて備えた高性能モデル。3方向連続測定で異方性を解析。高性能のスタンダードモデル。
測定対象
熱拡散率
測定範囲
0.1~1,000 (×10^6m2s-1)
出力データ
周波数、距離、振幅、位相、厚さ [TXT形式]
測定モード 垂直方向
⚪︎
測定モード 水平方向
⚪︎
測定モード 分布測定
⚪︎
付属その他 温度変調ヒーター
Option
付属その他 制御・解析ソフトウェア
⚪︎
付属その他 PC
⚪︎
測定環境 測定温度
室温
測定環境 測定温度 (ヒーター搭載時)
RT~300 (℃)
測定環境 測定周波数
0.01 (Hz) ~100 (kHz)
半導体レーザ 波長
808 (nm)
半導体レーザ 最大出力
1.5 (W)
放射温度計 素子
InSb
放射温度計 冷却方法
液体窒素
ステージ可動領域 検出ステージ
±5 (mm)
ステージ可動領域 試料ステージ
±10 (mm)
繰り返し精度
±5 (%)
電源
AC100-240 (V) ,10-5 (A) ,50/60 (Hz)
レーザ安全
CLASS Ⅰ LASER PRODUCT IEC/EN 60825-1:2007
ご利用条件 測定対象
固体材料 (樹脂・ガラス・セラミックス・金属・ダイヤモンドほか)
ご利用条件 試料外形
不定形でも可
ご利用条件 表面形状
極端な凹凸がないこと (厚みの規定ができれば良い)
ご利用条件 表面処理
黒化処理が必要 (炭素系材料では不要なケースもある)
ご利用条件 試料サイズ (最大)
100×100×2 (mm)
ご利用条件 試料サイズ (最小)
10×10×0.015 (mm)
ご利用条件 参照試料
不要
型番
TA33取扱企業
株式会社ベテル| 商品画像 | 価格 (税抜) | 測定対象 | 測定範囲 | 出力データ | 測定モード 垂直方向 | 測定モード 水平方向 | 付属その他 温度変調ヒーター | 付属その他 ピント調整 | 付属その他 制御・解析ソフトウェア | 付属その他 PC | 測定環境 測定温度 | 測定環境 測定温度 (ヒーター搭載時) | 測定環境 測定周波数 | 半導体レーザ 波長 | 半導体レーザ 最大出力 | 放射温度計 素子 | 放射温度計 冷却方法 | ステージ可動領域 検出ステージ | 繰り返し精度 | 電源 | レーザ安全 | ご利用条件 測定対象 | ご利用条件 試料外形 | ご利用条件 表面形状 | ご利用条件 表面処理 | ご利用条件 試料サイズ (最大) | ご利用条件 試料サイズ (最小) | ご利用条件 参照試料 |
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要見積もり | 熱拡散率 | 0.1~1,000 (×10^6m2s-1) | 周波数、距離、振幅、位相、厚さ [TXT形式] | ⚪︎ | ⚪︎ | Option | Auto | ⚪︎ | ⚪︎ | 室温 | RT~300 (℃) | 0.01 (Hz) ~100 (kHz) | 808 (nm) | 1.5 (W) | InSb | 液体窒素 | ±5 (mm) | ±5 (%) | AC100-240 (V) ,10-5 (A) ,50/60 (Hz) |
CLASS Ⅰ LASER PRODUCT IEC/EN 60825-1:2007 |
固体材料 (樹脂・ガラス・セラミックス・金属・ダイヤモンドほか) | 不定形でも可 | 極端な凹凸がないこと (厚みの規定ができれば良い) | 黒化処理が必要 (炭素系材料では不要なケースもある) | 100×100×2 (mm) | 10×10×0.015 (mm) | 不要 |
