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オックスフォード・インストゥルメンツのOmniProbeCryoリフトアウトをご利用いただくと、高圧冷凍サンプルなどの極低温サンプルに対するリフトアウト操作の適用対象が拡がります。 Cryo-FIBプローブの場合、サードパーティ提供のCryoSystemsを使って-180°に冷却された極低温サンプルでもリフトアウト操作が可能です。今後、さまざまな新しいサンプルに対して、さらにはさまざまな業界において、Cryo-TEMプローブやCryo-atomプローブによるナノ解析が可能となります。 特徴 ■研究分野を拡張 ・従来は高い解像度での分析が困難、または不可能であった試料で高い品質を達成 ・Ga+と反応したり、加熱に敏感な材料 ・水性試料や液固界面 ・バッテリー、バイオインプラント、ヒドロゲル ・Plunge-Freezingには大きい試料 ■上質のイメージや結果を取得 ・Ga+ FIBによるアーチファクトを低減させることによりデータ品質を改善 ・化学反応を抑制 (例: III-V materials) ・温度効果を抑制 (例: polymers) ■トモグラフィーデータの再構築と正確性の改善 ・クライオウルトラミクロトームによって誘発される試料圧縮を回避することによる良好な超微細構造の保存を達成 ・大きな細胞や組織のTEMやアトムプローブ解析の高品質化
Site specific lift-out
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チャージの中和
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型番
Cryo lift-outカテゴリ
Metoree経由で見積もり
2025年3月25日にレビュー済み
顧客対応への満足度
初回対応までの時間への満足度
22.17時間
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マイクロマニピュレータの製品27点中、注目ランキング上位6点
電話番号不要
何社からも電話が来る心配はありません
一括見積もり
複数社に同じ内容の記入は不要です
返答率96%
96%以上の方が返答を受け取っています
商品画像 | 価格 (税抜) | リニアリティ | エンコーダー分解能 | 挿入再現性 | 最小速度 | 最高速度 | 同心回転 | 温度センサー内蔵 | Site specific lift-out | Plan-view | Vent free plan-view | Backside Thinning | アトムプローブトモグラフィー試料の前処理 | 極低温リフトアウト | 電圧コントラストイメージング | チャージの中和 | On-Tip分析 | EBIC測定 | EBAC測定 | in Situチップ交換 |
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要見積もり | 500nm | <50nm | 15μm* | 50nm/s | 250μm/s | ✘ | ✔ | ✔ | P | ✘ | ✘ | P | ✔ | ✘ | ✔ | ✘ | ✘ | ✘ | ✘ |