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ニデックアドバンステクノロジー株式会社
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次世代ICサブストレート基板バンプ検査装置 次世代ICサブストレート基板の3Dバンプの高さと外観の同時検査等に対応 ■特徴 ・高速高精度検査が自由自在 ・超...
ニデックアドバンステクノロジー株式会社
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次世代ICサブストレート基板バンプ検査装置 超高速で基盤の反りを測定。次世代ICサブストレート基板の3Dバンプの高さと外観の同時検査等に対応 ■特徴 ・高...
