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キーコムの誘電率測定装置

19 点の製品がみつかりました

19 点の製品

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キーコム株式会社

比誘電率/誘電正接測定システム 開放型共振器

最新の閲覧: 16時間前

■概要 ミリ波高精度測定。20GHz ~ 330GHzの測定に最適。開放型共振器の一種であるファブリペロー (Fabry-Perot) 共振器を用いていますの...


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キーコム株式会社

比誘電率/誘電正接測定システム TM空洞共振器

最新の閲覧: 9時間前

■概要 高精度であるため、フィルム、粉体等も測定可能。試料のマイクロ波における比誘電率 および誘電正接を測定する摂動方式の高精度測...


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キーコム株式会社

比誘電率/誘電正接測定システム TE空洞共振器

最新の閲覧: 9時間前

■概要 シート状試料、セラミックス等の誘電率測定システム。真空試験、温度変化試験可能。 スプリットシリンダ共振器とも呼ばれ、共振...


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キーコム株式会社

比誘電率/誘電正接測定システム ストリップライン共振器法

最新の閲覧: 4時間前

■概要 厚み方向の誘電率・誘電正接の測定が可能。基板材料等に最適。 周波数が800MHzから14GHzにおいて比誘電率が概ね1から40で誘電体...


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キーコム株式会社

比誘電率/誘電正接測定システム マイクロストリップラインタイプ共振法

最新の閲覧: 2時間前

■概要 セラミック材料など加工できない材料に最適です。表面にタッチすれば測定できます。周波 数が800MHzから14GHzにおいて比誘電率が...


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キーコム株式会社

比誘電率/誘電正接測定システム 共振方式LC共振器タイプ

最新の閲覧: 1時間前

■概要 5MHz~1GHzの正確な誘電率が必要な場合に最適。シート又はプリント基板などの複素誘電率を 10MHz, 50MHz,100MHzで 正確に測定する...


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キーコム株式会社

比誘電率/誘電正接測定システム 平行導体板型誘電体共振器法

最新の閲覧: 20時間前

■概要 主に低損失材料のマイクロ波帯εr'およびtanδの高精度測定装置です。 なお、円柱状の試料を使用します。 また、これはJIS R 1627と...


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キーコム株式会社

比誘電率,誘電正接,透過減衰量,電波吸収率,ミリ波・マイクロ波測定装置・システム

最新の閲覧: 16時間前

■概要 電波暗室不要。簡単な測定に正確な値。エンブレム、レドーム、切断できない試料、厚い材料、メタマテリアルの測定に最適。70℃~+30...


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キーコム株式会社

比誘電率/誘電正接測定システム 周波数変化法同軸管、導波管タイプ

最新の閲覧: 2時間前

■概要 小さな試料で測定が可能な、閉鎖系の測定システムです。低誘電正接の測定に適しています。  原理上、試料と治具の間に隙間がで...


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キーコム株式会社

比誘電率/誘電正接測定システム プローブ方式 (オープン)

最新の閲覧: 20時間前

■概要 液体、ゴム状固体測定に。プローブ法は比較法だが、ワイドレンジ (100MHz (10MHz) -67GHz) が測定可能


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キーコム株式会社

比誘電率/誘電正接測定システム プローブ方式 (ショート)

最新の閲覧: 4時間前

■概要 ・低周波 (100KHz) から高周波 (10GHz) まで測定が可能です。 ・固体、液体を試料として使用できます。 ・試料面に垂直方向に電界...


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キーコム株式会社

比誘電率,誘電正接,比透磁率,透過減衰量、反射減衰量測定装置・システム Sパラメータ方式反射法および透過法同軸管、導波管タイプ

最新の閲覧: 18時間前

■概要 電波吸収材料等、損失が大きめの材料の測定に最適。小さな試料で測定が可能な、閉鎖系の測定システムです。高誘電正接の測定に適...


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キーコム株式会社

比誘電率, 誘電正接, 比透磁率, 透過減衰量, 電波吸収率,ミリ波・マイクロ波 測定装置・システム Sパラメータ法フリースペースタイプ

最新の閲覧: 14時間前

■概要 電波吸収材料等 損失が大きめの材料の測定に。比誘電率、誘電正接、透磁率が同時に測定できる、フリースペースタイプの測定装置...


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キーコム株式会社

比誘電率,誘電正接,比透磁率測定装置・システム 入射角変化法

最新の閲覧: 12時間前

■概要 反射減衰量および反射位相角の入射角依存性をTE波とTM波について測定します。この測定値から逆推定することにより、複素比誘電率...


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キーコム株式会社

比誘電率/誘電正接測定システム 伝搬遅延方式 Cut Backタイプ同軸管法

最新の閲覧: 1時間前

■概要 周波数が45MHzから40GHzにおいてεr'が概ね1.05から500の液体のεr'およびtanδを計測する測定装置・システムです。バイアスを印加す...


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キーコム株式会社

比誘電率/誘電正接測定システム Sパラメータ方式 低周波用開放同軸反射法

最新の閲覧: 18時間前

■概要 静電容量法で誘電率、誘電正接を1GHzまで測定しようとすると、正しく測れないことから、連続的に測定できる低周波帯用の誘電率測...


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キーコム株式会社

静電容量方式 平面板,液体,ジェル,極薄膜,複合薄膜比誘電率・誘電正接測定装置・システム

最新の閲覧: 20時間前

■概要 高精度測定。低温~高温、 真空 (減圧) 環境試験等 対象物にあわせてカスタマイズ可能。平面板、液体、ジェルの比誘電率およびtan...


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キーコム株式会社

MOSFET構造半導体空乏層およびゲート電極直下誘電体膜比誘電率測定装置・システム

最新の閲覧: 4時間前

■概要 空乏層の誘電率も測定可能。MOSFET構造半導体空乏層およびゲート電極直下誘電体膜 の比誘電率を測定するシステムです。 絶縁膜の...


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キーコム株式会社

エリプソメトリー法比誘電率/比透磁率測定装置・システム

最新の閲覧: 4時間前

■概要 スカラー測定であるため、高価なベクトルネットワークアナライザを必要としません。また、反射係数のTE波とTM波の振幅比と位相の...




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