産業用製品メーカー比較 | Metoree
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日本電子株式会社
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◾️ 新しい試料作製ソリューション JIB-PS500iは、TEM試料作製をアシストする3つのソリューションを提供します。試料作製からTEM観察まで、確実かつ高スループ...
観察機器
FIB-SEM
Xe プラズマ FIB-SEMシステム【SOLARIS X】
株式会社東陽テクニカ
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Xe プラズマ FIB-SEMシステム【AMBER X】
200人以上が見ています
3D分析と試料作製を高いスループットで実現する FIB-SEM Crossbeam
カールツァイス株式会社
590人以上が見ています
最新の閲覧: 9時間前
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