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大塚電子の粒子径分布測定装置

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大塚電子株式会社

ダイナミック光散乱光度計 DLS-6500series

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動的光散乱法を用いた粒子径・粒子径分布 (粒径・粒径分布) 測定が可能です。 ■特長 ・動的光散乱法を用いた粒子径・粒子径分布 (粒径...


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大塚電子株式会社

ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000series

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動的光散乱法を用いた粒子径・粒子径分布 (粒径・粒径分布) 測定と静的光散乱法を用いた絶対分子量・慣性半径・第二ビリアル係数の測定...


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大塚電子株式会社

高感度示差屈折計 DRM-3000

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静的光散乱法による重量平均分子量決定のためのdn/dc測定が可能です。 ■特長 ・シリンジ方式によりサンプル注入が容易に行えます。 ・...


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大塚電子株式会社

多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA

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nanoSAQLA (ナノサクラ) は、動的光散乱法 (DLS法) による粒子径測定 (粒子径0.6nm~10μm) 装置です。品質管理のニーズを更に追求した機...


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大塚電子株式会社

多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA (オートサンプラ AS50 付き)

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nanoSAQLA (ナノサクラ) とオートサンプラAS50の組み合わせで、最大50検体まで連続自動測定が可能です。1検体の測定時間は約1分と高速で...


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大塚電子株式会社

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo

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■光散乱による物性評価はELSZneoで新たなステージへ ELSZseriesの最上位機種で希薄溶液~濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定に加え、分...


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大塚電子株式会社

量子ドット評価システム

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量子ドット材料は粒子径により発光波長が変わるという特性があるといわれています。本システムでは粒子径および分散安定性の評価ととも...


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