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三次元測定

データ・デザインの光学測定器

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株式会社データ・デザイン

メトロロジーキット

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100.0% 返答率

47.7時間 返答時間

特徴 ■Artec メトロロジーキットとは 変形分析や試験、検査などの高精度を求められる産業用途向けの3D光学座標計測システムです。この計...


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