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リガクの蛍光X線分析装置

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28 点の製品

株式会社リガク

半導体評価用波長分散型蛍光X線分析装置 薄膜評価用蛍光X線分析装置 AZX 400

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■薄膜評価用蛍光X線分析装置 半導体材料として重要なB、C、N、Oを含む、Be~Uまでの全元素を1台でカバー ■波長分散型蛍光X線分析 (WDX)...


株式会社リガク

半導体評価用波長分散型蛍光X線分析装置 薄膜評価用蛍光X線分析装置 WAFER/DISK ANALYZER 3650

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■各種薄膜の膜厚と組成を、同時に、非破壊、非接触で分析 ~200mmサイズまでのウェーハ上の各種薄膜の膜厚と組成を、同時に、非破壊、非...


株式会社リガク

半導体評価用波長分散型蛍光X線分析装置 薄膜評価用蛍光X線分析装置 WaferX 310

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最新の閲覧: 18時間前

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■300mm、200mmウェーハ上の各種薄膜の膜厚・組成を、同時に非破壊、非接触で分析可能な波長分散型蛍光X線分析装置 (WD-XRF) GEM300に対...


株式会社リガク

反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学ツール ハイブリッドXRFおよび光計測FABツール ONYX 3000

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■ハイブリッドXRFおよび光計測FABツール 300mm、200mmウェーハ上の各種薄膜の膜厚・組成を、同時に非破壊、非接触で分析可能なエネルギ...


株式会社リガク

反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学ツール インラインデュアルヘッドマイクロスポットXRF ONYX 3200

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■非破壊ウェーハ検査と計測 ・デュアルX線源 (ポリキャピラリー/モノクロマチック) ・300mmウェーハまで対応 ■概要 ONYX3200は、市場...


株式会社リガク

反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学ツール X線膜厚・密度測定装置 XHEMIS EX-2000

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■X線膜厚・密度測定装置XHEMISEX-2000 蛍光X線 (XRF) およびX線反射率 (XRR) による非接触、非破壊な膜厚・密度測定装置 ■XRR新光学系...


株式会社リガク

反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学ツール XRR、EDXRF、およびXRD計測ツール XTRAIA MF-2000

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■XRR、EDXRF、およびXRD計測ツール 組成および膜厚 (EDXRF) 、膜厚、密度、および粗さ (XRR) について、未パターン化およびパターン化さ...


株式会社リガク

反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学ツール インラインX線膜厚・密度モニター XTRAIA MF-3000 (MFM310)

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■パターンウェーハ対応の蛍光X線 (XRF) 、X線反射率 (XRR) およびX線回折 (XRD) によるインライン膜厚・密度モニター リガクのXTRAIAMF-...


株式会社リガク

全反射蛍光X線分析装置 ウェーハ表面上の汚染を非破壊・非接触で高感度に分析 TXRF 3760

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■ロータ型高出力X線発生装置と新設計入射X線モノクロメーターを採用 ダイレクトTXRF測定法で遷移金属LLD10^8atoms/cm2レベルを実現。封...


株式会社リガク

全反射蛍光X線分析装置 軽元素Naから重元素Uまでの汚染元素を極微量で分析 TXRF 310Fab

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■ロータ型高出力X線発生装置と新設計入射X線モノクロメータを採用 ダイレクトTXRF測定法で遷移金属LLD10^8atoms/cm2レベルを実現。封入...


株式会社リガク

全反射蛍光X線分析装置 軽元素Naから重元素Uまでの汚染元素を極微量で分析 TXRF-V310

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■ロータ型高出力X線発生装置と新設計入射X線モノクロメータを採用 ダイレクトTXRF測定法で遷移金属LLD10^8atoms/cm2レベルを実現。封入...


株式会社リガク

全反射蛍光X線分析装置 TXRFスペクトロメーター XHEMIS TX-3000

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■TXRFスペクトロメーター ・超高速金属汚染マッピング ・300mmウェーハまで対応


株式会社リガク

全反射蛍光X線分析装置 VPD内蔵TXRFスペクトロメーター XHEMIS TX-3000V

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■VPD内蔵TXRFスペクトロメーター ・超高速金属汚染マッピング ・VPDによる最高感度 ・300mmウェーハまで対応


株式会社リガク

波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IV

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ルーチン分析に安心してお使いいただける上面照射タイプの走査型蛍光X線分析装置です。測定・解析をサポートする“ZSXGuidance”を備え、...


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波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 充実した安心・安全の機構や機能を搭載 ZSX Primus III NEXT

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上面照射方式を採用し、生産管理分析に威力を発揮できる走査型蛍光X線分析装置 ■上面照射方式 試料の上方からX線を照射する方式のため...


株式会社リガク

波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 下面照射タイプの走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IVi

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■アプリケーションの共有化が容易 上面照射タイプZSXPrimusIVと下面照射タイプZSXPrimusIViとのハード・ソフトウェアの共通プラットフォ...


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波長分散型蛍光X線分析装置 Supermini200

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最新の閲覧: 23時間前

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■高出力200WのX線管を搭載し鉱物資源分析から環境分析まで広範囲なアプリケーションに対応 コンパクトサイズでありながら高出力200WのX...


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波長分散型蛍光X線分析装置 ハイスループット、高精度分析が可能な多元素同時型の蛍光X線分析装置 Simultix15

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■ハイスループット、高精度分析 高速試料搬送システムと高速データ処理、強力かつ安定なX線により、走査型装置と比べて高精度かつ短時間...


株式会社リガク

波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus400

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■多彩なアダプターにより、様々な形状の試料や、多試料の測定にも対応できる蛍光X線分析装置 大径試料 (φ400mm×50mm) をそのまま測定で...


株式会社リガク

波長分散型蛍光X線分析装置 蛍光X線硫黄分分析計 Micro-Z ULS

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ASTMD2622による石油燃料中の超低硫黄測定ができる卓上波長分散型蛍光X線分析装置 ■硫黄の高感度分析を追求した最新光学系を搭載 ・新...


株式会社リガク

波長分散型蛍光X線分析装置 波長分散型蛍光X線塩素分分析計 Micro-Z CL

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石油製品中の塩素の高感度分析ができる卓上波長分散型蛍光X線分析装置 ■塩素分析に最適な光学系を搭載 ・高感度な両湾曲分光結晶を採用...


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エネルギー分散型蛍光X線分析装置 進化した元素分析装置 NEX CG II Series

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次世代偏光光学系エネルギー分散型蛍光X線分析装置 ■進化した元素分析装置 NEXCGIISeriesは、分析精度を重視した偏光光学系のエネルギ...


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エネルギー分散型蛍光X線分析装置 製造現場での工程管理分析だけでなく、研究開発にも適したエネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX DE

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■少量粉末試料の分析に 粉末であれば試料量はミクロスパーテルに一杯で十分です。直接励起方式の光学系により最小径1mmの少量試料でも感...


株式会社リガク

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX QC+に半定量分析等,高機能ソフトウェアを搭載したPCモデル NEX QC+ QuantEZ

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■超コンパクト 331mm (W) ×432mm (D) ×376mm (H) 重さ:16kg ■高機能ソフトウェア搭載 半定量分析など高機能ソフトウェアを搭載したPC...


株式会社リガク

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 非常に小型で扱いやすい、エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX QC

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■超コンパクト 331mm (W) ×432mm (D) ×376mm (H) 重さ:16kgデータ解析用コンピューター、サーマルプリンターを内蔵。 ■様々なサンプル...


株式会社リガク

携帯型蛍光X線分析計 Niton 携帯型成分分析計 XL2/XL3t/XL5シリーズ Niton XL Series (Metal)

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最新の閲覧: 20時間前

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■Niton携帯型成分分析計XL2/XL3t/XL5シリーズ (合金・純金属用) ・コンパクトな防塵・防滴仕様でどんな現場でも成分分析 ・微量元素・...


株式会社リガク

携帯型蛍光X線分析計 Niton 携帯型成分分析計 XL2/XL3t/XL5シリーズ (RoHS/ハロゲン規制用)

40人以上が見ています

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■Niton携帯型成分分析計XL2/XL3t/XL5シリーズ (RoHS/ハロゲン規制用) ・コンパクトな防塵・防滴仕様でどんな現場でも成分分析 ・高感度...


株式会社リガク

携帯型蛍光X線分析計 Niton 携帯型成分分析計 XL2/XL3t/XL5シリーズ (鉱物・土壌・各種素材用)

20人以上が見ています

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■Niton携帯型成分分析計XL2/XL3t/XL5シリーズ (鉱物・土壌・各種素材用) 微量元素・軽元素対応機種がさらに高感度化され、目的元素を短...


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