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エフ・アイ・テックの蛍光X線分析装置

5 点の製品がみつかりました

5 点の製品

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エフ・アイ・テック株式会社

デスクトップ型膜厚計 XANシリーズ

最新の閲覧: 14分前

■特徴 ・操作が簡単。金および貴金属でもっとも重要な機能を備えることによる最適な価格と性能。 ・下から上へ測定することにより、サンプルを簡単に位置決め...


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エフ・アイ・テック株式会社

デスクトップ型膜厚計 XULシリーズ

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最新の閲覧: 10分前

■特徴 ・シンプルで高速なポジショニング–広い測定チャンバーと下から上への測定方向により、プリント回路基板やフレキシブル回路基板など大きなサンプルでも...


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エフ・アイ・テック株式会社

デスクトップ型膜厚計 XDLシリーズ

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最新の閲覧: 16分前

■特徴 ・異なるハードウェアコンポーネントによりさまざまな測定作業に対応する蛍光X線式装置 ・測定距離を変えられるため (最大80 mm) 、回路基板や ・プロ...


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エフ・アイ・テック株式会社

デスクトップ型膜厚計 XDVシリーズ

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最新の閲覧: 17分前

■特徴 ・高性能なX線管と優れた高感度なシリコンドリフト検出器 (SDD) のおかげで、反復可能な精度によりもっとも薄い皮膜を測定可能 ・長時間連続測定に対応...


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エフ・アイ・テック株式会社

デスクトップ型膜厚計 XUV

10人以上が見ています

最新の閲覧: 12秒前

■特徴 ・低い検出限度、反復可能な高い精度、広くアップグレードできる測定などにより、研究開発に特に適合します ・軽元素でも高い精度で測定できる真空チャ...


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