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エフ・アイ・テックの蛍光X線分析装置

5 点の製品がみつかりました

5 点の製品

エフ・アイ・テック株式会社

デスクトップ型膜厚計 XANシリーズ

120人以上が見ています

最新の閲覧: 5時間前

■特徴 ・操作が簡単。金および貴金属でもっとも重要な機能を備えることによる最適な価格と性能。 ・下から上へ測定することにより、サン...


エフ・アイ・テック株式会社

デスクトップ型膜厚計 XDLシリーズ

120人以上が見ています

■特徴 ・異なるハードウェアコンポーネントによりさまざまな測定作業に対応する蛍光X線式装置 ・測定距離を変えられるため (最大80 mm) ...


エフ・アイ・テック株式会社

デスクトップ型膜厚計 XDVシリーズ

110人以上が見ています

最新の閲覧: 1日前

■特徴 ・高性能なX線管と優れた高感度なシリコンドリフト検出器 (SDD) のおかげで、反復可能な精度によりもっとも薄い皮膜を測定可能 ・...


エフ・アイ・テック株式会社

デスクトップ型膜厚計 XULシリーズ

120人以上が見ています

最新の閲覧: 1日前

■特徴 ・シンプルで高速なポジショニング–広い測定チャンバーと下から上への測定方向により、プリント回路基板やフレキシブル回路基板な...


エフ・アイ・テック株式会社

デスクトップ型膜厚計 XUV

110人以上が見ています

■特徴 ・低い検出限度、反復可能な高い精度、広くアップグレードできる測定などにより、研究開発に特に適合します ・軽元素でも高い精度...


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