東陽テクニカの透過型電子顕微鏡

電子顕微鏡 (SEM・TEM) 自動測定機能を進化させた新型モデル 走査電子顕微鏡 JSM-IT710HR

明伸工機株式会社

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電子顕微鏡 (SEM・TEM) 光学像からSEM観察、元素分析まで高い操作の壁を破る卓上SEM 卓上走査電子顕微鏡 JCM-7000

明伸工機株式会社

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EDSモードの追加が可能に 低電圧透過型電子顕微鏡 (TEM) LVEM25E

入江株式会社

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低電圧透過型電子顕微鏡 (卓上TEM) LVEM5

入江株式会社

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STEM (走査型透過電子顕微鏡) にCL、PL測定機能を追加。近赤外光の検出も可能。 STEM用 CL/PL測定システム Monch

株式会社東京インスツルメンツ

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電子顕微鏡組込み型ナノインデンテーションシステム SEM／TEM in-situ ナノインデンター

ブルカージャパン株式会社

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4種類の商品があります

JEM-120i 電子顕微鏡

日本電子株式会社

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