東京インスツルメンツの透過型電子顕微鏡
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株式会社東京インスツルメンツ
STEM (走査型透過電子顕微鏡) にCL、PL測定機能を追加。近赤外光の検出も可能。 STEM用 CL/PL測定システム Monch
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■概要 本製品は、走査型透過電子顕微鏡 (STEM) に、集光・光照射の拡張機能を追加するシステムです。集光モードでは電子線が照射源となり、CL測定を実現しま...
