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6 点の製品
株式会社テイエスエスジャパン
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■製品情報 E1セットは、開発段階のプリント基板におけるEMIの影響を試験するためのEMCツールセットです。E1セットを使用すれば、バーストとESD干渉の原因を迅...
株式会社テイエスエスジャパン
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■製品情報 P11tミニバーストフィールドジェネレーターは、干渉耐性解析のための開発ツールの1つです。先端から生成されるファーストトランジェント磁場は、ア...
株式会社テイエスエスジャパン
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■製品情報 P12tミニバーストフィールドジェネレーターは、開発段階でのアセンブリの弱点を検出できます。カップリングクランプの原理に従って、ファーストト...
株式会社テイエスエスジャパン
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■製品情報 ミニバーストフィールドジェネレータシリーズは特に小型で使い易く、開発段階の電子アセンブリの弱点の特定に大変適しています。ミニバーストフィ...
株式会社テイエスエスジャパン
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■製品情報 P23の干渉パルスは、テスト対象のリセット、クロック、クォーツ、或いはそれぞれの信号線等のデジタルIC入力を通り、結合します。結合はバーストフ...
株式会社テイエスエスジャパン
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■製品情報 S2セットには、アクティブ及びパッシブ近傍界プローブが含まれています。これらは、干渉下にある電子デバイスやアセンブリ内の非反応性ファースト...
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