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項目別

解像度 μm

0 - 5 5 - 10 10 - 20 20 - 40

検査速度 mm/秒

0 - 100 100 - 500

光学分解能 μm

0 - 10

使用用途

電子部品
  1. Metoree
  2. 検査装置
  3. 表面検査装置
  4. 有限会社高度技術研究所

高度技術研究所の表面検査装置

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世界最速·最高性能 COF/TAB 自動検査装置-有限会社高度技術研究所

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世界最速·最高性能 COF/TAB 自動検査装置

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