産業用製品メーカー比較 | Metoree
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1 点の製品がみつかりました
コグネックス株式会社
90人以上が見ています
100.0% 返答率
75.2時間 平均返答時間
■概要 フレキシブルツールがなければ、通常の工程変動によって検査中に誤品が発生する可能性があります。コグネックスのフレキシブル傷検査 (FFD) は、レンズ...
検査装置
表面検査装置
多機能 次世代 表面検査システム SCANTEC 8000
ナガセテクノエンジニアリング株式会社
170人以上が見ています
検出された欠陥部のマーキングが可能 超大型ワーク表面検査装置
株式会社中央電機計器製作所
200人以上が見ています
平均返答時間: 24.75時間
検査データと画像を自動で保存 微細欠陥検査装置
210人以上が見ています
LED-1000 装置名:インライン自動LEDパッケージ表面検査装置
株式会社ジュッツジャパン
最新の閲覧: 19時間前
平均返答時間: 0.94時間
LED-2000 インライン自動チップLEDパッケージ表面検査装置
180人以上が見ています
表面検査メトロロジー Surface Inspection Metrology of Nanofilms (SIMON)
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
110人以上が見ています
平均返答時間: 26.42時間
工作機械 工程特化型設備 破断面検査
株式会社安永
130人以上が見ています
平均返答時間: 24.60時間
分子間相互作用解析装置 QCM-D qCell (最も標準的な3T社のフラグシップモデル)
株式会社日本レーザー
120人以上が見ています
平均返答時間: 41.03時間
分子間相互作用解析装置 QCM-D qCellµOpto (顕微鏡搭載型QCM-D)
分子間相互作用解析装置 QCM-D qCell T (温度コントロール機能あり)
分子間相互作用解析装置 QCM-D qCell T eChem (電気化学QCM-D)
機器・装置に取付け可能な 表面性状観察カメラ PC-14USS
株式会社ピコ
100人以上が見ています
平均返答時間: 67.54時間
検査測定装置 ベアチップ CI8000
最新の閲覧: 6時間前
検査測定装置 ベアチップ CI200i
最新の閲覧: 22時間前
検査測定装置 ベアチップ CI200D/CI300D
最新の閲覧: 20時間前
2種類の商品があります
ノンパターンウェーハのパーティクルを高感度で測定 ウェハー表面検査装置 WM-7S
入江株式会社
50人以上が見ています
最新の閲覧: 3時間前
ウェハー表面検査装置 WM-10
40人以上が見ています
測定条件の柔軟さにより測定時間の短縮を実現 VSAウエハテスタ
230人以上が見ています
最新の閲覧: 1時間前
検査測定装置 半導体・電子部品 LI920S/LI900W
190人以上が見ています
最新の閲覧: 2時間前
ブライトライトウェハ表面検査装置 V2000
ハイソル株式会社
70人以上が見ています
チップ部品外観 (4面) 検査装置 OVS-6410
オカノ電機株式会社
半導体ウェハ自動外観検査装置 CosmoFinder
三谷商事株式会社
360人以上が見ています
最新の閲覧: 43分前
チップ外観検査装置
株式会社ピクリング
RMH搭載バラtoトレイ 外観検査装置
株式会社ヒューブレイン
250人以上が見ています
