ルシールの表面検査装置

多機能 次世代 表面検査システム SCANTEC 8000

ナガセテクノエンジニアリング株式会社

170人以上が見ています

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検出された欠陥部のマーキングが可能 超大型ワーク表面検査装置

株式会社中央電機計器製作所

200人以上が見ています

平均返答時間: 24.75時間

検査データと画像を自動で保存 微細欠陥検査装置

株式会社中央電機計器製作所

210人以上が見ています

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平均返答時間: 24.75時間

LED-1000 装置名:インライン自動LEDパッケージ表面検査装置

株式会社ジュッツジャパン

170人以上が見ています

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平均返答時間: 0.94時間

LED-2000 インライン自動チップLEDパッケージ表面検査装置

株式会社ジュッツジャパン

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平均返答時間: 0.94時間

エッジ検査 フレキシブル傷検査 (FFD)

コグネックス株式会社

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平均返答時間: 96.36時間

表面検査メトロロジー Surface Inspection Metrology of Nanofilms (SIMON)

パーク・システムズ・ジャパン株式会社

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平均返答時間: 26.42時間

工作機械 工程特化型設備 破断面検査

株式会社安永

130人以上が見ています

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平均返答時間: 24.60時間

分子間相互作用解析装置 QCM-D qCell (最も標準的な3T社のフラグシップモデル)

株式会社日本レーザー

110人以上が見ています

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平均返答時間: 46.85時間

分子間相互作用解析装置 QCM-D qCellµOpto (顕微鏡搭載型QCM-D)

株式会社日本レーザー

110人以上が見ています

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平均返答時間: 46.85時間

分子間相互作用解析装置 QCM-D qCell T (温度コントロール機能あり)

株式会社日本レーザー

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平均返答時間: 46.85時間

分子間相互作用解析装置 QCM-D qCell T eChem (電気化学QCM-D)

株式会社日本レーザー

100人以上が見ています

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平均返答時間: 46.85時間

検査測定装置 ベアチップ CI8000

株式会社安永

100人以上が見ています

検査測定装置 ベアチップ CI200i

株式会社安永

120人以上が見ています

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検査測定装置 ベアチップ CI200D/CI300D

株式会社安永

110人以上が見ています

2種類の商品があります

WAFER MVM-SEM® 次世代ウエハ対応の多次元観察・測長SEM E3310

株式会社アドバンテスト

40人以上が見ています

ノンパターンウェーハのパーティクルを高感度で測定 ウェハー表面検査装置 WM-7S

入江株式会社

40人以上が見ています

ウェハー表面検査装置 WM-10

入江株式会社

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測定条件の柔軟さにより測定時間の短縮を実現 VSAウエハテスタ

株式会社中央電機計器製作所

220人以上が見ています

検査測定装置 半導体・電子部品 LI920S/LI900W

株式会社安永

170人以上が見ています

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2種類の商品があります

ブライトライトウェハ表面検査装置 V2000

ハイソル株式会社

70人以上が見ています

組み付けチェック機 AI-1007

株式会社エーアイテック

260人以上が見ています

低温ICハンドラ

株式会社エーアイテック

520人以上が見ています

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2種類の商品があります

直線移動型ICハンドラ

株式会社エーアイテック

260人以上が見ています

2種類の商品があります