産業用製品メーカー比較 | Metoree
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1 点の製品がみつかりました
NKワークス株式会社
50人以上が見ています
100.0% 返答率
45.7時間 平均返答時間
■製品概要 ベーカー・ヒューズ (Baker Hughes) 社製の工業用内視鏡は、ポータブルで軽量ながら最新鋭のHD画質により、非破壊目視検査の効率化に大きく貢献し...
検査装置
画像測定器
高精度3軸 光学・画像測定システム 【ホーク】シリーズ
日本ヴィジョン・エンジニアリング株式会社
240人以上が見ています
平均返答時間: 13.83時間
2種類の商品があります
酸化劣化測定システム ケミルミネッセンス (CL) アナライザー 微弱発光画像測定装置 (CCDタイプ) CLA-IMG4
ベルトールドジャパン株式会社
70人以上が見ています
平均返答時間: 48.02時間
二次元画像測定機 EXLON-Yシリーズ
中島工機株式会社
60人以上が見ています
最新の閲覧: 2時間前
平均返答時間: 47.44時間
7種類の商品があります
高精度ハンディ3Dスキャナー ARTEC Leo
株式会社オーピーティー
20人以上が見ています
高精度ハンディ3Dスキャナー Artec Space Spider
高精度ハンディ3Dスキャナー ARTEC Eva
最新の閲覧: 19時間前
高精度ハンディ3Dスキャナー ARTEC Eva Lite
40人以上が見ています
3Dスキャナー 最高精度2µの光学計測システム Metrology Kit プロフェッショナル版
30人以上が見ています
3Dスキャナー 最高精度2µの光学計測システム Metrology Kit エントリー版
高精度でプロ仕様のキャプチャを可能にする超高速の長距離用3DスキャナArtec Ray II
五ミクロンの精度でのパーツのデジタル化が可能な、自動卓上型3Dスキャナ Artec Micro II
DPI ハンディ3Dスキャナー DPI-10
最新の閲覧: 3時間前
検査測定装置 ベアチップ CI8000
株式会社安永
110人以上が見ています
最新の閲覧: 8時間前
検査測定装置 ベアチップ CI200i
130人以上が見ています
最新の閲覧: 23時間前
検査測定装置 ベアチップ CI200D/CI300D
120人以上が見ています
最新の閲覧: 21時間前
ノンパターンウェーハのパーティクルを高感度で測定 ウェハー表面検査装置 WM-7S
入江株式会社
最新の閲覧: 5時間前
ウェハー表面検査装置 WM-10
測定条件の柔軟さにより測定時間の短縮を実現 VSAウエハテスタ
株式会社中央電機計器製作所
230人以上が見ています
検査測定装置 半導体・電子部品 LI920S/LI900W
190人以上が見ています
ブライトライトウェハ表面検査装置 V2000
ハイソル株式会社
チップ部品外観 (4面) 検査装置 OVS-6410
オカノ電機株式会社
半導体ウェハ自動外観検査装置 CosmoFinder
三谷商事株式会社
360人以上が見ています
最新の閲覧: 1時間前
チップ外観検査装置
株式会社ピクリング
100人以上が見ています
RMH搭載バラtoトレイ 外観検査装置
株式会社ヒューブレイン
250人以上が見ています
