産業用製品メーカー比較 | Metoree
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1 点の製品がみつかりました
ベルトールドジャパン株式会社
70人以上が見ています
最新の閲覧: 1日前
100.0% 返答率
48.0時間 平均返答時間
超高感度CCDカメラを使用した装置。 微弱発光の画像測定が可能で、酸化劣化部位の分布や劣化程度を画像で確認できます。 また多検体の同時測定が可能となりま...
検査装置
画像測定器
高精度3軸 光学・画像測定システム 【ホーク】シリーズ
日本ヴィジョン・エンジニアリング株式会社
240人以上が見ています
最新の閲覧: 3時間前
平均返答時間: 11.77時間
2種類の商品があります
二次元画像測定機 EXLON-Yシリーズ
中島工機株式会社
60人以上が見ています
平均返答時間: 47.44時間
7種類の商品があります
高精度ハンディ3Dスキャナー ARTEC Leo
株式会社オーピーティー
20人以上が見ています
高精度ハンディ3Dスキャナー Artec Space Spider
高精度ハンディ3Dスキャナー ARTEC Eva
高精度ハンディ3Dスキャナー ARTEC Eva Lite
30人以上が見ています
3Dスキャナー 最高精度2µの光学計測システム Metrology Kit プロフェッショナル版
3Dスキャナー 最高精度2µの光学計測システム Metrology Kit エントリー版
高精度でプロ仕様のキャプチャを可能にする超高速の長距離用3DスキャナArtec Ray II
五ミクロンの精度でのパーツのデジタル化が可能な、自動卓上型3Dスキャナ Artec Micro II
DPI ハンディ3Dスキャナー DPI-10
自動外観検査装置 シマ・ロボシス
萬世興業株式会社
平均返答時間: 25.88時間
検査測定装置 ベアチップ CI8000
株式会社安永
100人以上が見ています
最新の閲覧: 18時間前
検査測定装置 ベアチップ CI200i
130人以上が見ています
最新の閲覧: 11時間前
検査測定装置 ベアチップ CI200D/CI300D
110人以上が見ています
WAFER MVM-SEM® 次世代ウエハ対応の多次元観察・測長SEM E3310
株式会社アドバンテスト
40人以上が見ています
最新の閲覧: 9時間前
ノンパターンウェーハのパーティクルを高感度で測定 ウェハー表面検査装置 WM-7S
入江株式会社
ウェハー表面検査装置 WM-10
測定条件の柔軟さにより測定時間の短縮を実現 VSAウエハテスタ
株式会社中央電機計器製作所
220人以上が見ています
最新の閲覧: 14時間前
検査測定装置 半導体・電子部品 LI920S/LI900W
180人以上が見ています
ブライトライトウェハ表面検査装置 V2000
ハイソル株式会社
チップ部品外観 (4面) 検査装置 OVS-6410
オカノ電機株式会社
50人以上が見ています
組み付けチェック機 AI-1007
株式会社エーアイテック
260人以上が見ています
低温ICハンドラ
10人以上が見ています