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CSOI Waferシリコンウェハの製品36点中、注目ランキング上位6点
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まとめて問合せ・見積 | 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | ハンドル 厚さ | ハンドル厚さ 公差範囲 | ハンドル層 重ね厚さ 範囲 | ハンドル層 ドーパント タイプ | ハンドル層 ドーピング | ハンドル層 抵抗率 | ハンドル層 シリコン成長方法 | ハンドル層 結晶方位 | ハンドル層 裏面処理 | 埋め込み酸化膜 熱酸化膜 埋め込み酸化膜 | デバイス層膜厚 | デバイス 厚さ 公差範囲 | デバイス層 ドーパントタイプ | デバイス層 ドーピング | デバイス層 低効率 | デバイス層 シリコン成長方法 | デバイス層 結晶方位 | デバイス層 埋め込み層のインプラ | デバイス層 薄膜 厚さ/SOI 厚さ | デバイス層 キャビティーSPAN (幅) :薄膜 (デバイス) 厚みの比 | デバイス層 最小 ボンディングサイズ特徴 | デバイス層 キャビティーの深さ | デバイス層 キャビティー作成箇所 |
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CSOI Wafer ウエハー直径 100mm |
要見積もり | 200-1,100μm | ±5μm | 280-1,150μm | N or P | N type: Phos、 Red Phos、Sb&As P type: Boron | ≤0.001 - ≥10,000 Ω -cm | CZ、MCZ or FZ | 100、111 or 110 | ラップ仕上げ、エッチングまたはポリッシュ磨きによる | 0.2-4.0μm ハンドル、デバイスまたは両ウエハーによる | ≥1.5μm | ±0.5 μm | N or P | N type: Phos、 Red Phos、Sb&As P type: Boron | ≤0.001 - ≥10,000 Ω -cm | CZ、MCZ or FZ | 100、111 or 110 | N type または P type | >2μm | <50:1 μm (デザインによる) | 20μm | 1-30μm@ +/-10%、31-300μm @+/-20% | ハンドル, デバイスもしくは埋め込み層 | ||
CSOI Wafer ウエハー直径 125mm |
要見積もり | 200-1,100μm | ±5μm | 280-1,150μm | N or P | N type: Phos、 Red Phos、Sb&As P type: Boron | ≤0.001 - ≥10,000 Ω -cm | CZ、MCZ or FZ | 100、111 or 110 | ラップ仕上げ、エッチングまたはポリッシュ磨きによる | 0.2-4.0μm ハンドル、デバイスまたは両ウエハーによる | ≥1.5μm | ±0.5 μm | N or P | N type: Phos、 Red Phos、Sb&As P type: Boron | ≤0.001 - ≥10,000 Ω -cm | CZ、MCZ or FZ | 100、111 or 110 | N type または P type | >2μm | <50:1 μm (デザインによる) | 20μm | 1-30μm@ +/-10%、31-300μm @+/-20% | ハンドル, デバイスもしくは埋め込み層 | ||
CSOI Wafer ウエハー直径 150mm |
要見積もり | 200-1,100μm | ±5μm | 280-1,150μm | N or P | N type: Phos、 Red Phos、Sb&As P type: Boron | ≤0.001 - ≥10,000 Ω -cm | CZ、MCZ or FZ | 100、111 or 110 | ラップ仕上げ、エッチングまたはポリッシュ磨きによる | 0.2-4.0μm ハンドル、デバイスまたは両ウエハーによる | ≥1.5μm | ±0.5 μm | N or P | N type: Phos、 Red Phos、Sb&As P type: Boron | ≤0.001 - ≥10,000 Ω -cm | CZ、MCZ or FZ | 100、111 or 110 | N type または P type | >2μm | <50:1 μm (デザインによる) | 20μm | 1-30μm@ +/-10%、31-300μm @+/-20% | ハンドル, デバイスもしくは埋め込み層 |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。