モニター/ダミーSiウェハ | XCSW製 化合物・半導体結晶 Si結晶基板・シリコンウェハ
株式会社トゥーリーズ
価格 (税抜)
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100.0%
平均返答時間
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ウェハサイズ
スクラッチ、チップ、ピールなど
ドーパント
パーティクル (max)
プライマリフラット
ラジアル比抵抗変化量
前面
厚さ
平行度
抵抗値
結晶育成法
裏面
転位密度
面方位
インチ
基板厚
比抵抗
研磨面
粒子
-
型番
モニター/ダミーSiウェハ
-
取扱企業
株式会社トゥーリーズ
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XCSW製 化合物・半導体結晶 Si結晶基板・シリコンウェハ モニター/ダミーSiウェハの性能表
| 商品画像 | 価格 (税抜) | インチ | 基板厚 | 比抵抗 | 研磨面 | 粒子 | 面方位 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
要見積もり | 4~12 | 250~775um | 0~100 |
4~8インチ : 片面 12インチ : 両面 |
4~8インチ :0.2um ≦30個 12インチ : 0.09um ≦100個 |
4インチ : (100) or (111) 6~12インチ : -100 |
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のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
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