光コム3次元センサー（外観検査、形状測定） (株式会社XTIA) のカタログ情報
光コム3次元センサー（外観検査、形状測定）
製品総合カタログ
カタログ紹介
光コム技術は弊社が初めて産業応用に成功し、3次元センサーとして製品化しました。
簡単な操作で高精度な3次元点群データを取得することができます。
形状測定から外観検査、容積検査まで様々な用途でご活用いただけます。
弊社製品はソリューションとしてのご提供が可能であり、ハードウェアカスタム、ソフトウェアカスタムにも対応しております。
複雑形状の外郭測定、内面測定、また様々な素材の測定が可能です。
自動検査ソフトもご用意しており、各種自動検査が可能です。
・外観検査
・容積検査
・寸法検査
またAIとの組み合わせることで、「AI×ルールベース×3次元センサー」ソリューションとして高精度な外観検査の定量化に貢献します。
お客様の課題に合わせて最適なソリューションをご提案いたしますので、まずはお気軽にご相談ください。
実機デモ、サンプル評価も随時実施しております。
【光コム3次元センサー】
・L90-1G：XY分解能100μm、Z分解能10μm、焦点距離127mm
・S40-1G：XY分解能60μm、Z分解能10μm、焦点距離106mm
・S40-25G：XY分解能60μm、Z分解能1μm、焦点距離106mm
・M5-25G：XY分解能28μm、Z分解能1μm、焦点距離74mm
【光コム技術】
光コムは、周波数スペクトルが等間隔に歯が並んだ櫛（くし）のような形状をしていることから、光の櫛(Optical frequency comb；Optocomb)と呼ばれるようになった特殊なレーザーです。周波数と時間を測る「世界で最も精度の高いものさし」ともいわれています。
弊社はその光コム技術を活用しTOF法による同軸測定によって高精度に測距可能な3次元センサーを開発しました。
【光コム3次元センサーの優位性】
・高速測定：接触式の3次元測定器と比較して大幅に短い時間で点群データの取得が可能
・複雑形状に対応：従来の非接触式3次元センサー（光切断法、白色干渉法、ToF法）と比較して、影になる部分が圧倒的に少なく複雑形状でも正確にデータ取得が可能、また長い焦点距離のためインラインで起こりがちな設備干渉等にも強い
・ミクロン計測：最高1μmの精度で測定が可能
・外乱光ロバスト性：外乱光の影響に強いため環境光の遮蔽が不要、また暗室での測定も可能
簡単な操作で高精度な3次元点群データを取得することができます。
形状測定から外観検査、容積検査まで様々な用途でご活用いただけます。
弊社製品はソリューションとしてのご提供が可能であり、ハードウェアカスタム、ソフトウェアカスタムにも対応しております。
複雑形状の外郭測定、内面測定、また様々な素材の測定が可能です。
自動検査ソフトもご用意しており、各種自動検査が可能です。
・外観検査
・容積検査
・寸法検査
またAIとの組み合わせることで、「AI×ルールベース×3次元センサー」ソリューションとして高精度な外観検査の定量化に貢献します。
お客様の課題に合わせて最適なソリューションをご提案いたしますので、まずはお気軽にご相談ください。
実機デモ、サンプル評価も随時実施しております。
【光コム3次元センサー】
・L90-1G：XY分解能100μm、Z分解能10μm、焦点距離127mm
・S40-1G：XY分解能60μm、Z分解能10μm、焦点距離106mm
・S40-25G：XY分解能60μm、Z分解能1μm、焦点距離106mm
・M5-25G：XY分解能28μm、Z分解能1μm、焦点距離74mm
【光コム技術】
光コムは、周波数スペクトルが等間隔に歯が並んだ櫛（くし）のような形状をしていることから、光の櫛(Optical frequency comb；Optocomb)と呼ばれるようになった特殊なレーザーです。周波数と時間を測る「世界で最も精度の高いものさし」ともいわれています。
弊社はその光コム技術を活用しTOF法による同軸測定によって高精度に測距可能な3次元センサーを開発しました。
【光コム3次元センサーの優位性】
・高速測定：接触式の3次元測定器と比較して大幅に短い時間で点群データの取得が可能
・複雑形状に対応：従来の非接触式3次元センサー（光切断法、白色干渉法、ToF法）と比較して、影になる部分が圧倒的に少なく複雑形状でも正確にデータ取得が可能、また長い焦点距離のためインラインで起こりがちな設備干渉等にも強い
・ミクロン計測：最高1μmの精度で測定が可能
・外乱光ロバスト性：外乱光の影響に強いため環境光の遮蔽が不要、また暗室での測定も可能
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