【EXFO社】IL/RL/PDL測定評価用 光コンポーネントテスタ『CTP10』 (セブンシックス株式会社) のカタログ情報

【EXFO社】IL/RL/PDL測定評価用 光コンポーネントテスタ『CTP10』

製品個別カタログ

カタログ紹介

光集積回路や光パッシブ部品のIL/RL/PDL測定評価用プラットフォームです。チューナブルレーザ(T100S-HP)との組み合わせで高精度の掃引IL/RL/PDL測定を提供、モジュール式の為、自由度の高い測定環境を構成できます。

【特長】
・波長範囲:1240-1680 nm
・ダイナミックレンジ:一回の掃引で70 dB
・IL解像度:0.0001 dB
・プラットフォーム毎に最大50の検出器
・波長精度:±5 pm
・サンプリング分解能:1 pm @掃引速度100 nm/s

カタログについて

カタログ名
【EXFO社】IL/RL/PDL測定評価用 光コンポーネントテスタ『CTP10』
取り扱い企業
セブンシックス株式会社
会社区分
商社・代理店
該当カテゴリ
ネットワークテスタ
カタログタイプ
製品個別カタログ

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