【EXFO社】IL/RL/PDL測定評価用 光コンポーネントテスタ『CTP10』 (セブンシックス株式会社) のカタログ情報
【EXFO社】IL/RL/PDL測定評価用 光コンポーネントテスタ『CTP10』
製品個別カタログ
カタログ紹介
光集積回路や光パッシブ部品のIL/RL/PDL測定評価用プラットフォームです。チューナブルレーザ(T100S-HP)との組み合わせで高精度の掃引IL/RL/PDL測定を提供、モジュール式の為、自由度の高い測定環境を構成できます。
【特長】
・波長範囲：1240-1680 nm
・ダイナミックレンジ：一回の掃引で70 dB
・IL解像度：0.0001 dB
・プラットフォーム毎に最大50の検出器
・波長精度：±5 pm
・サンプリング分解能：1 pm @掃引速度100 nm/s
【特長】
・波長範囲：1240-1680 nm
・ダイナミックレンジ：一回の掃引で70 dB
・IL解像度：0.0001 dB
・プラットフォーム毎に最大50の検出器
・波長精度：±5 pm
・サンプリング分解能：1 pm @掃引速度100 nm/s
カタログについて
- カタログ名
- 【EXFO社】IL/RL/PDL測定評価用 光コンポーネントテスタ『CTP10』
- 取り扱い企業
- セブンシックス株式会社
- 会社区分
- 商社・代理店
- 該当カテゴリ
- ネットワークテスタ
- カタログタイプ
- 製品個別カタログ
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