OSK 75GQ M5000 金属分析装置（発光分光分析装置） (オガワ精機株式会社) のカタログ情報
OSK 75GQ M5000 金属分析装置（発光分光分析装置）
製品個別カタログ
カタログ紹介
CCDテクノロジーを用いた金属分析用の分光計です。
堅牢な構造と便利な操作や高い信頼性により、世界各国で親しまれております。
プログラム可能なデジタルスパーク源、自動校正の技術により、早くて信頼出来る結果を得ることができます。
ISO 9001の認証の取得あり
◎特長◎
●高性能で低価格
● コンパクト設計の卓上型
●干渉補正によるグローバル工場校正
●分光計温度制御による高精度と安定性
●待機電力100VA、真空ポンプ不要の省エネ設計 ●簡素化された操作ソフトウェアにより、使いやすい
● 波長範囲140nm-680nm、より多くの元素の分析が可能
●最適化された性能、二重光学系設計、C、P、S、Nの分析が可能
●特注なQC機能とグレード識別功能により、未知の材料を簡単に分類
●インテリジェントなデータキャプチャ、バックグラウンド干渉の低減による精度の向上
●アルゴンパージ制御により、入り口レンズを汚染から保護し、メンテナンスを最小限に抑え ● 完全な波長範囲、特注な工場校正、それ以上のハードウェア構成なしで新しい要素が加わる
堅牢な構造と便利な操作や高い信頼性により、世界各国で親しまれております。
プログラム可能なデジタルスパーク源、自動校正の技術により、早くて信頼出来る結果を得ることができます。
ISO 9001の認証の取得あり
◎特長◎
●高性能で低価格
● コンパクト設計の卓上型
●干渉補正によるグローバル工場校正
●分光計温度制御による高精度と安定性
●待機電力100VA、真空ポンプ不要の省エネ設計 ●簡素化された操作ソフトウェアにより、使いやすい
● 波長範囲140nm-680nm、より多くの元素の分析が可能
●最適化された性能、二重光学系設計、C、P、S、Nの分析が可能
●特注なQC機能とグレード識別功能により、未知の材料を簡単に分類
●インテリジェントなデータキャプチャ、バックグラウンド干渉の低減による精度の向上
●アルゴンパージ制御により、入り口レンズを汚染から保護し、メンテナンスを最小限に抑え ● 完全な波長範囲、特注な工場校正、それ以上のハードウェア構成なしで新しい要素が加わる
カタログについて
- カタログ名
- OSK 75GQ M5000 金属分析装置（発光分光分析装置）
- 取り扱い企業
- オガワ精機株式会社
- カタログタイプ
- 製品個別カタログ
