【UHS_X線CTシステム撮影事例】FET観察事例 (株式会社ユー・エイチ・システム) のカタログ情報

【UHS_X線CTシステム撮影事例】FET観察事例

ノウハウカタログ

カタログ紹介

マイクロフォーカスX線CTシステムXVA-160RZにてFET(電界効果トランジスタ)を3次元斜めCTで撮影しボイドを検出した事例です。
透視撮影では実装部のはんだとチップ下のはんだが重なり合って各層のボイドを見分ける事が困難です。
そこで、CT撮影をする事で添付資料のように断層を分けて観察する事が可能となります。

-XVA-160RZはユーセントリック機能によって透視観察の段階で撮影部位を指定し、そのままサンプルを取り出すことなく、3次元斜めCTの撮影に移行することができるため、工数削減にも繋がります。

-XVAシリーズは2000年の発売以来、国内大手半導体メーカー様、電子部品メーカー様、EMSメーカー様に多数ご採用いただいている弊社のベストセラーモデルです。
コア技術である、ユーセントリック機能*1と3次元斜めCT機能を軸に、直交CT機能を付加することで、幅広い用途で汎用的に使用できるようになりました。

*1ユーセントリック機能
透視観察時において、検出器傾斜、ステージ回転、倍率変更等の動作を行った際に、着目したポイントに自動追随する機能。当社の特許技術。

カタログについて

カタログ名
【UHS_X線CTシステム撮影事例】FET観察事例
取り扱い企業
株式会社ユー・エイチ・システム
該当カテゴリ
X線検査装置 X線CT装置 非破壊検査装置
カタログタイプ
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