OMNISEC-世界最先端のマルチ検出器GPC/SECシステム (スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル 事業部) のカタログ情報
OMNISEC-世界最先端のマルチ検出器GPC/SECシステム
製品個別カタログ
カタログ紹介
クロマトグラフィーに示差屈折率検出器、光散乱検出器、粘度検出器、PDA/UV検出器を追加することができるマルチ検出器GPC/SECシステム。
【Point】
・絶対分子量測定が可能
・固有年度測定が可能
・コポリマー解析が可能
・Mark-Houwink桜田プロットが可能
・多様な測定パラメータ
・高感度な検出器
・測定コントロールから分析まで可能なOMNISECソフトウェア
【測定事例】
・ポリマー分析
・タンパク質分析
etc..
●絶対分子量測定が可能
光散乱検出器により得られる散乱光強度からは、溶出体積に依存しない絶対分子量が測定可能です。
●固有粘度測定が可能
粘度検出器により、分子の固有粘度の測定が可能です。
●コポリマー解析が可能
UV検出器またはフォトダイオードアレイ(PDA)検出器と示差屈折率（RI)検出器の組み合わせにより、フラクション中の２成分の比率が計算できます。
●Mark-Houwink桜田プロットが可能
絶対分子量を横軸に、固有粘度を縦軸にプロットすることにより、高分子の分岐に関する情報が得られます。
【Point】
・絶対分子量測定が可能
・固有年度測定が可能
・コポリマー解析が可能
・Mark-Houwink桜田プロットが可能
・多様な測定パラメータ
・高感度な検出器
・測定コントロールから分析まで可能なOMNISECソフトウェア
【測定事例】
・ポリマー分析
・タンパク質分析
etc..
●絶対分子量測定が可能
光散乱検出器により得られる散乱光強度からは、溶出体積に依存しない絶対分子量が測定可能です。
●固有粘度測定が可能
粘度検出器により、分子の固有粘度の測定が可能です。
●コポリマー解析が可能
UV検出器またはフォトダイオードアレイ(PDA)検出器と示差屈折率（RI)検出器の組み合わせにより、フラクション中の２成分の比率が計算できます。
●Mark-Houwink桜田プロットが可能
絶対分子量を横軸に、固有粘度を縦軸にプロットすることにより、高分子の分岐に関する情報が得られます。
カタログについて
- カタログ名
- OMNISEC-世界最先端のマルチ検出器GPC/SECシステム
- 取り扱い企業
- スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル 事業部
- 該当カテゴリ
- HPLC
- カタログタイプ
- 製品個別カタログ
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